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J-GLOBAL ID:201603004979968775

α-Ga2O3単結晶、α-Ga2O3の製造方法、および、それを用いた半導体素子

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2015035140
Publication number (International publication number):2016155714
Application date: Feb. 25, 2015
Publication date: Sep. 01, 2016
Summary:
【課題】半導体素子に適用可能なα-Ga2O3単結晶、α-Ga2O3の製造方法、及び、それを用いた半導体素子の提供。【解決手段】少なくともGaのハロゲン化物を含むガリウム原料の分圧を0.05〜10kPa、O2、H2OおよびN2Oから少なくとも1つ選択される酸素原料の分圧を0.25〜50kPaとし、250〜650°C未満の成長温度、5μm〜1mm/時間の成長速度で、サファイア基板上にα-Ga2O3単結晶を成長させるハライド気相成長法によるα-Ga2O3単結晶の製造方法。前記方法によって得られる、カーボン濃度が5×1018cm-3以下、水素濃度が、5×1018cm-3以下、アルミニウム濃度が4×16cm-3以下、塩素濃度が1×18cm-3以下であり、波長300nm以上の光に対する吸収係数は、500cm-1以下であるα-Ga2O3単結晶及び前記単結晶を備えた半導体素子。【選択図】なし
Claim (excerpt):
カーボン濃度は、5×1018cm-3以下である、α-Ga2O3単結晶。
IPC (6):
C30B 29/16 ,  C30B 25/16 ,  C23C 16/40 ,  C23C 16/14 ,  H01L 21/205 ,  H01L 33/26
FI (6):
C30B29/16 ,  C30B25/16 ,  C23C16/40 ,  C23C16/14 ,  H01L21/205 ,  H01L33/00 180
F-Term (67):
4G077AA03 ,  4G077AB01 ,  4G077AB04 ,  4G077BB10 ,  4G077DB05 ,  4G077EA02 ,  4G077EA05 ,  4G077EA07 ,  4G077EB01 ,  4G077EB06 ,  4G077ED05 ,  4G077ED06 ,  4G077EH01 ,  4G077HA12 ,  4G077TB04 ,  4G077TC02 ,  4G077TC03 ,  4G077TC06 ,  4G077TC08 ,  4G077TC10 ,  4G077TC19 ,  4G077TK01 ,  4G077TK06 ,  4K030AA03 ,  4K030AA14 ,  4K030AA24 ,  4K030BA08 ,  4K030BA09 ,  4K030BA10 ,  4K030BA16 ,  4K030BA18 ,  4K030BA22 ,  4K030BA29 ,  4K030BA42 ,  4K030BB02 ,  4K030CA05 ,  4K030CA12 ,  4K030DA08 ,  4K030EA03 ,  4K030FA10 ,  4K030JA01 ,  4K030JA06 ,  4K030JA09 ,  4K030JA10 ,  4K030JA12 ,  4K030LA01 ,  4K030LA12 ,  4K030LA15 ,  4K030LA18 ,  5F045AA03 ,  5F045AA04 ,  5F045AB09 ,  5F045AB14 ,  5F045AB17 ,  5F045AF01 ,  5F045AF04 ,  5F045AF05 ,  5F045BB16 ,  5F045CA10 ,  5F045DA59 ,  5F241AA41 ,  5F241CA05 ,  5F241CA13 ,  5F241CA40 ,  5F241CA63 ,  5F241CA64 ,  5F241CA65
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
Article cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • Halide vapor phase epitaxy of twin-free α-Ga2O3 on sapphire(0001)substrates

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