Pat
J-GLOBAL ID:201603004979968775
α-Ga2O3単結晶、α-Ga2O3の製造方法、および、それを用いた半導体素子
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2015035140
Publication number (International publication number):2016155714
Application date: Feb. 25, 2015
Publication date: Sep. 01, 2016
Summary:
【課題】半導体素子に適用可能なα-Ga2O3単結晶、α-Ga2O3の製造方法、及び、それを用いた半導体素子の提供。【解決手段】少なくともGaのハロゲン化物を含むガリウム原料の分圧を0.05〜10kPa、O2、H2OおよびN2Oから少なくとも1つ選択される酸素原料の分圧を0.25〜50kPaとし、250〜650°C未満の成長温度、5μm〜1mm/時間の成長速度で、サファイア基板上にα-Ga2O3単結晶を成長させるハライド気相成長法によるα-Ga2O3単結晶の製造方法。前記方法によって得られる、カーボン濃度が5×1018cm-3以下、水素濃度が、5×1018cm-3以下、アルミニウム濃度が4×16cm-3以下、塩素濃度が1×18cm-3以下であり、波長300nm以上の光に対する吸収係数は、500cm-1以下であるα-Ga2O3単結晶及び前記単結晶を備えた半導体素子。【選択図】なし
Claim (excerpt):
カーボン濃度は、5×1018cm-3以下である、α-Ga2O3単結晶。
IPC (6):
C30B 29/16
, C30B 25/16
, C23C 16/40
, C23C 16/14
, H01L 21/205
, H01L 33/26
FI (6):
C30B29/16
, C30B25/16
, C23C16/40
, C23C16/14
, H01L21/205
, H01L33/00 180
F-Term (67):
4G077AA03
, 4G077AB01
, 4G077AB04
, 4G077BB10
, 4G077DB05
, 4G077EA02
, 4G077EA05
, 4G077EA07
, 4G077EB01
, 4G077EB06
, 4G077ED05
, 4G077ED06
, 4G077EH01
, 4G077HA12
, 4G077TB04
, 4G077TC02
, 4G077TC03
, 4G077TC06
, 4G077TC08
, 4G077TC10
, 4G077TC19
, 4G077TK01
, 4G077TK06
, 4K030AA03
, 4K030AA14
, 4K030AA24
, 4K030BA08
, 4K030BA09
, 4K030BA10
, 4K030BA16
, 4K030BA18
, 4K030BA22
, 4K030BA29
, 4K030BA42
, 4K030BB02
, 4K030CA05
, 4K030CA12
, 4K030DA08
, 4K030EA03
, 4K030FA10
, 4K030JA01
, 4K030JA06
, 4K030JA09
, 4K030JA10
, 4K030JA12
, 4K030LA01
, 4K030LA12
, 4K030LA15
, 4K030LA18
, 5F045AA03
, 5F045AA04
, 5F045AB09
, 5F045AB14
, 5F045AB17
, 5F045AF01
, 5F045AF04
, 5F045AF05
, 5F045BB16
, 5F045CA10
, 5F045DA59
, 5F241AA41
, 5F241CA05
, 5F241CA13
, 5F241CA40
, 5F241CA63
, 5F241CA64
, 5F241CA65
Patent cited by the Patent:
Article cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
-
Halide vapor phase epitaxy of twin-free α-Ga2O3 on sapphire(0001)substrates
Return to Previous Page