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J-GLOBAL ID:201603006866461596

X線検査装置、X線検査方法およびX線検査プログラム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): Knowledge Partners 特許業務法人 ,  岩上 渉
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2014171676
Publication number (International publication number):2016045163
Application date: Aug. 26, 2014
Publication date: Apr. 04, 2016
Summary:
【課題】検査対象部の像に基づいて検査対象部の位置を特定する技術の提供。【解決手段】所定方向に対して傾斜した角度でX線を検査対象部に照射して撮影した複数のX線画像を取得するX線画像取得手段と、前記複数のX線画像に基づいて再構成演算を実行する再構成演算手段と、当該再構成演算によって得られた再構成情報に基づいて、前記所定方向に垂直な方向のX線画像のエッジ量を取得するエッジ量取得手段と、前記エッジ量の前記所定方向への変化に基づいて前記検査対象部の前記所定方向の端部の位置を取得する端部位置取得手段と、を備えるX線検査装置を構成する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
所定方向に対して傾斜した角度でX線を検査対象部に照射して撮影した複数のX線画像を取得するX線画像取得手段と、 前記複数のX線画像に基づいて再構成演算を実行する再構成演算手段と、 当該再構成演算によって得られた再構成情報に基づいて、前記所定方向に垂直な方向のX線画像のエッジ量を取得するエッジ量取得手段と、 前記エッジ量の前記所定方向への変化に基づいて前記検査対象部の前記所定方向の端部の位置を取得する端部位置取得手段と、 を備えるX線検査装置。
IPC (1):
G01N 23/04
FI (1):
G01N23/04
F-Term (5):
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001LA11 ,  2G001MA05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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