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J-GLOBAL ID：200903035778773710

X線CT装置

Inventor：
亀川 正之

About 亀川 正之


Applicant, Patent owner：
株式会社島津製作所

About 株式会社島津製作所


Agent (1)： 河▲崎▼ 眞樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007016825
Publication number (International publication number)：2008185359
Application date： Jan. 26, 2007
Publication date： Aug. 14, 2008
Summary：
【課題】しきい値を用いることなく、CT装置による断層像上のエッジ位置の抽出を正確に行うことができ、しかも、その空間分解能を画素ピッチよりも向上させることができ、被撮像物の内部の寸法を高精度で計測することのできるX線CT装置を提供する。【解決手段】断層像上で指定された2つのエッジE1,E2間の寸法を計測する画像処理手段9と、その計測された断層像上での寸法を、あらかじめ算出されているピクセル等量を用いて実寸法に換算する演算手段10を備え、画像処理手段9によるエッジE1,E2の位置情報の抽出を、当該エッジE1,E2間を結ぶ方向へのCT値のラインプロファイルの微分値から求めることで、しきい値を不要とし、また、微分値のピーク位置を法文線近似等で求めることで空間分解能を画素ピッチよりも細かくすることが可能となる。【選択図】図2
Claim (excerpt)：
互いに対向配置されたX線源とX線検出器の間に、被撮像物を搭載してX線光軸に直交する回転軸を中心として回転する回転テーブルが配置されているとともに、その回転テーブルを回転させつつ、その微小回転角度ごとに収集した被撮像物の3次元X線透過データを記憶し、その記憶したX線透過データを用いて、設定された任意のスライス面に沿った被撮像物の断層像を構築するX線CT装置において、 上記断層像上で指定された2つのエッジ間の寸法を計測する画像処理手段と、その計測された断層像上での寸法を、あらかじめゲージを用いて算出されているピクセル等量を用いて実寸法に換算する演算手段を備えるとともに、上記画像処理手段における各エッジの位置情報の抽出を、当該エッジ間を結ぶ方向へのCT値のラインプロファイルの微分値から求めることを特徴とするX線CT装置。
IPC (1)：
G01N 23/04
FI (1)：
G01N23/04
F-Term (10)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001FA06 ,  2G001GA13 ,  2G001HA07 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001KA03 ,  2G001PA12
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (7)
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