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J-GLOBAL ID：201603012521156774
光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (4)：
吉田 正義
, 今枝 弘充
, 梅村 裕明
, 吉田 安子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2016023525
Publication number (International publication number)：2016148661
Application date： Feb. 10, 2016
Publication date： Aug. 18, 2016
Summary：
【課題】被測定光ファイバの片端から光を入射するだけで、当該被測定光ファイバの特性分布を短時間に測定でき、なおかつ雑音を除去してSN比が向上したブリルアン周波数シフト又はBDGシフトを生成し得る。【解決手段】周期変調参照光の変調周期1/fLのロックイン周波数fLを基準に、ロックイン検出器26により、周波数解析器20からの出力から雑音を除去した直流ないし低周波数成分だけを抽出して当該直流ないし低周波数成分から、ある位置でのブリルアン周波数シフトを検出できる。これにより、電気スペクトラムアナライザが備える機能のうち雑音を除去するための複雑なスペクトラム演算処理を繰り返し行う機能が必要なくなり、その分、被測定光ファイバFUTの特性分布を短時間に測定できる。本発明は、被測定光ファイバFUTの特性分布を短時間に測定でき、なおかつ雑音を除去してSN比が向上したブリルアン周波数シフトを得る。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
周波数変調された連続光を出力光として出力する光源部と、
前記光源部からの前記出力光を、被測定光ファイバの片端からポンプ光として入射させるポンプ光生成手段と、
前記光源部からの前記出力光を、参照光として生成する参照光生成手段と、
前記参照光、前記ポンプ光、又は前記被測定光ファイバ内のブリルアン散乱により生じた反射光のいずれかに対して、所定の変調を施す期間と、前記変調を施さない期間とを変調周期1/fL(fLはロックイン周波数)で繰り返す周期的変調を与える光変調手段と、
前記被測定光ファイバ内のブリルアン散乱により生じた反射光と、前記参照光とを干渉させ、前記出力光の前記周波数変調を利用して、前記被測定光ファイバ内のある位置で発生した散乱による反射光を干渉出力として選択的に抽出する検出手段と、
前記検出手段からの干渉出力の周波数特性を解析する周波数解析手段と、
前記ロックイン周波数fLを基準に前記周波数解析手段からの出力から、直流ないし低周波数成分を抽出し、前記直流ないし低周波数成分から、前記位置でのブリルアン周波数シフトを検出し、前記被測定光ファイバの特性を測定するロックイン検出手段と
を備えたことを特徴とする光ファイバ特性測定装置。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (1)：
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2007-316440
Applicant：国立大学法人東京大学
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反射式ブリルアンスペクトル分布測定方法および装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2002-077199
Applicant：日本電信電話株式会社
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光ファイバ特性測定装置及び方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2011-018951
Applicant：横河電機株式会社, 三菱重工業株式会社
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