磁気共鳴測定装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：特許業務法人YKI国際特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2014149678
Publication number (International publication number)：2016024110
Application date： Jul. 23, 2014
Publication date： Feb. 08, 2016
Summary：

【課題】NMR測定装置等の磁気共鳴測定装置において、測定実行中に直交検波と同時に高い自由度の信号処理を行えるようにする。【解決手段】ミキサー98,100は、NMR測定結果を示すデジタル受信信号97に対して、参照信号生成回路102によって生成された一対の参照信号(cos信号、sin信号)99を乗算する。これにより受信信号が複素信号101に変換される。参照信号生成回路102は、一対の参照信号を生成する2つの受信用NCOを有している。受信用NCOは、任意周波数生成機能、周波数変調機能、位相変調機能を有する。2つの受信用NCOの動作は受信シーケンサーによって制御される。測定実行中において各受信用NCOの動作を動的に変更して、位相変調条件、周波数変調条件を動的に切り替えることが可能となる。また、参照信号の周波数を動的に変更することが可能となる。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

磁気共鳴測定により生成された受信信号に対して一対の参照信号をミキシングすることにより複素信号を出力する直交検波回路と、前記一対の参照信号を生成する回路であって、測定実行中に前記一対の参照信号の位相及び周波数の少なくとも1つを変化させる変調機能を備える参照信号生成回路と、を含むことを特徴とする磁気共鳴測定装置。

IPC (2)：

G01R 33/36 , G01R 33/32

FI (2)：

G01N24/04 530C , G01N24/02 530A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

制御可能な検波部を有する核磁気共鳴装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-380840 Applicant：株式会社日立製作所
核磁気共鳴を用いるスペクトル分析方法および核磁気共鳴装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-193255 Applicant：株式会社日立製作所
核磁気共鳴検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-280298 Applicant：株式会社島津製作所

Show all

Return to Previous Page