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J-GLOBAL ID：201702223153809000   Reference number：17A0208663

Analysis for Nano Porous Materials by Scanning Electron Microscopy

走査電子顕微鏡法によるナノ多孔質材料の解析

Author (6)： SAKUDA YUSUKE (日本電子) ,  SAKUDA YUSUKE (山形大 理) ,  ASAHINA SHUNSUKE (日本電子) ,  ISHIZAKI MANABU (山形大 理) ,  TOGASHI TAKANARI (山形大 理) ,  KURIHARA MASATO (山形大 理)
Material： ゼオライト  (Zeolite News Letters)
Volume： 34  Issue： 1  Page： 19-27  Publication year： Jan. 31, 2017 
JST Material Number： L1799A  ISSN： 0918-7774  CODEN： ZEOREM  Document type： Article
Article type： 文献レビュー  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *scanning electron microscope ,  electron microscopy ,  *nanomaterial ,  deceleration ,  *energy dispersive X-ray spectrometry ,  X-ray spectroscopy ,  light emission
Semi thesaurus term： *nanoporous material ,  low vacuum SEM ,  *energy dispersive X-ray spectrometry ,  resonant soft x-ray emission spectroscopy

JST classification (4)： Microscopy determination of structures  (BK01040E) ,  Colloid chemistry in general  (CB11010C) ,  Synthetic minerals  (CD01040K) ,  Other phsical analysis  (CC03014E)

Reference (8)：

• L. Reimer, Image Formation in Low-Voltage Scanning Electron Microscopy, SPIE Press (1993).
• M. Suga, S. Asahina, Y. Sakuda, H. Kazumori, H. Nishiyama, T. Nokuo, V. Alfredsson, T. Kjellman, S. M. Stevens, H. S. Cho, M. Chod, L. Han, S. Che, Mi. W. Anderson, F. Schüth, H. Deng, O. M. Yaghi, Z. Liu, H. Y. Jeong, A. Stein, K. Sakamoto, R. Ryoo, O. Terasaki, Prog. Solid State Ch., 42, 1-21 (2014).
• H.Takahashi, N. Handa, T. Murano, M. Terauchi, M. Koike, T. Kawachi, T. Imazono, M. Koeda, T. Nagano, H. Sasai, Y. Oue, Z. Yonezawa and S. Kuramoto, Micros.Microanal., 16 (supple. 2), 34 (2010).
• M.Terauchi, H. Takahasi, H. Nobuo, T. Murano, M. Koike, T. Kawachi, T. Imazono, M. Koeda, T. Nagano, H. Sasai, Y. Oue, Z. Yonezawa, S. Kuramoto, J. Electron Microsc., 61, 1 (2012).
• S&T出版,粉粒体/多孔質材料の計測とデータの解釈/使い方,pp.221-223(2015).

Terms in the title (3)： 走査電子顕微鏡法 ,  ナノ多孔質材料 ,  解析