Art

J-GLOBAL ID：201702257885202557   Reference number：17A1221148

Measurement of the Casimir force between a spherical gold tip and Si(111)-(7 × 7) surfaces

球状金チップとSi(111)-(7×7)表面間のカシミール力の測定

Author (3)： YOSHIDA Naoki (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN) ,  HIGASHINO Kazuhiko (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN) ,  SUEOKA Kazuhisa (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics  (JJAP)
Volume： 55  Issue： 8S1  Page： 08NB20.1-08NB20.5  Publication year： Aug. 2016 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *crystal orientation ,  *microscopy ,  *force ,  ultra high vacuum ,  *contact potential difference
Semi thesaurus term： *Si(111) ,  *Microscopy, Atomic Force ,  *Casimir force

JST classification (2)： Surface structure of semiconductors  (BK15030A) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Reference (35)：

• H. B. G. Casimir, Proc. K. Ned. Akad. Wet. 51, 793 (1948).
• H. B. G. Casimir and D. Polder, Phys. Rev. 73, 360 (1948).
• M. Nagase and H. Namatsu, Jpn. J. Appl. Phys. 43, 4624 (2004).
• T. Nagami, Y. Tsuchiya, K. Uchida, H. Mizuta, and S. Oda, Jpn. J. Appl. Phys. 49, 044304 (2010).
• H. B. Chan, V. A. Aksyuk, R. N. Kleiman, D. J. Bishop, and F. Capasso, Science 291, 1941 (2001).

Terms in the title (3)： 球状 ,  Si ,  カシミール力