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J-GLOBAL ID:201703002030073089

顔しかめ検出システム及び顔しかめ検出方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 長田 豊彦 ,  高木 秀文
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2012149853
Publication number (International publication number):2014013447
Patent number:6075982
Application date: Jul. 03, 2012
Publication date: Jan. 23, 2014
Claim (excerpt):
【請求項1】 顔をしかめたか否かを判断する対象となる人の顔を撮像する撮像手段と、 照度の変化により人が顔をしかめた時及び顔をしかめていない時の当該顔の器官の位置情報を学習することで顔をしかめたか否かを識別する識別機能を予め作成し、当該予め作成した識別機能及び前記撮像手段により撮像された人の顔の器官の位置情報から、当該撮像手段により撮像された人が顔をしかめたか否かを判断する顔しかめ判断手段と、 を具備し、 前記顔しかめ判断手段は、 前記顔の器官の位置情報として、右眉の内側端部から右目の内側端部までの距離、左眉の内側端部から左目の内側端部までの距離、眉間の距離、右目の上まぶたから下まぶたまでの距離及び左目の上まぶたから下まぶたまでの距離を用い、 目を細めた時、眉を寄せて目を細めた時、又は眉を寄せて目を細め、かつ口を横にひいた時の前記顔の器官の位置情報に基づいて、前記顔をしかめた時の顔の器官の位置情報を学習することを特徴とする、 顔しかめ検出システム。
IPC (1):
G06T 7/20 ( 201 7.01)
FI (1):
G06T 7/20 300 B
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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