Pat
J-GLOBAL ID：201703005217716659
曲面を基準面とする三次元形状計測方法
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
あいわ特許業務法人
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2015160644
Publication number (International publication number)：2017040482
Application date： Aug. 17, 2015
Publication date： Feb. 23, 2017
Summary：
【課題】基準面の移動が短くてすむ三次元形状計測方法を提供する。【解決手段】計測対象となる物体に格子投影し、位相解析を行う第1ステップと、注目画素に関して、位相解析によって得られた位相値から、キャリブレーションによりもとめた関係に基づいて、移動量を求める第2ステップと、位相値から、基準面上の位相値を求める第3ステップと、基準面上の位相値から基準面座標テーブルを用いて注目画素の三次元位置を特定する第4ステップと、第4ステップで特定した三次元位置に移動量を加算し、注目画素に写されている物体上の三次元位置の座標を求める第5ステップと、を備え、第1〜第5のステップを、全画素について行うことで、物体の形状計測を行う。【選択図】図5
Claim (excerpt)：
表面に二次元格子模様を有する曲面を有する基準面の三次元座標を求める第1ステップと、
初期位置における基準面の三次元座標を求める第2ステップと、
注目画素の前記二次元格子模様上の位相値を位相解析方法により読み取る第3ステップと、
前記第2ステップにより求めた三次元座標と前記第3ステップにより読み取った位相値とから、前記位相値に対して前記三次元座標を要素としてもつ基準面座標テーブルを作成する第4ステップと、
を含む基準面座標テーブル作成方法。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (14)：
2F065AA53
, 2F065BB01
, 2F065FF01
, 2F065FF02
, 2F065FF04
, 2F065FF06
, 2F065FF07
, 2F065FF09
, 2F065FF61
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065QQ24
, 2F065QQ25
, 2F065QQ31
Cited by applicant (3)
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多数の基準面を用いた形状計測方法および形状計測装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2007-127229
Applicant：国立大学法人和歌山大学
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キャリブレーション方法、及び形状測定装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2013-238114
Applicant：セイコーエプソン株式会社
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複数の格子を用いた三次元形状計測装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2012-042391
Applicant：藤垣元治, 株式会社ヒカリ
Cited by examiner (2)
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