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J-GLOBAL ID:201703005343917759
顕微鏡装置および観察方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (2):
西 和哉
, 川村 武
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2015180297
Publication number (International publication number):2017058386
Application date: Sep. 14, 2015
Publication date: Mar. 23, 2017
Summary:
【課題】照明光の収差を低減できる顕微鏡装置を提供する。【解決手段】顕微鏡装置1は、標本Sに照明光を照射する照明光学系4と、照明光の波面を調整する波面調整部5と、標本の表面形状を検出する表面検出部8と、表面検出部の検出結果を使って、照明光の収差を算出する収差算出部9と、収差算出部の算出結果に基づいて、波面調整部を制御する制御部10と、波面調整部が制御された状態で標本からの光を検出する検出部6、7と、を備える。【選択図】図1
Claim (excerpt):
標本に照明光を照射する照明光学系と、
前記照明光の波面を調整する波面調整部と、
前記標本の表面形状を検出する表面検出部と、
前記表面検出部の検出結果を使って、前記照明光の収差を算出する収差算出部と、
前記収差算出部の算出結果に基づいて、前記波面調整部を制御する制御部と、
前記波面調整部が制御された状態で前記標本からの光を検出する検出部と、を備える顕微鏡装置。
IPC (2):
FI (2):
F-Term (7):
2H052AA08
, 2H052AA09
, 2H052AB01
, 2H052AC15
, 2H052AC34
, 2H052AD20
, 2H052AF02
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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コヒーレントラマン散乱顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-082029
Applicant:オリンパス株式会社
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撮像装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2011-169520
Applicant:キヤノン株式会社
-
補償光学素子の設定方法及び顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2013-160985
Applicant:株式会社ニコン, 国立大学法人北海道大学
-
撮像システムおよびその制御方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2012-093805
Applicant:キヤノン株式会社
-
光学顕微鏡検出3次元画像の生成方法及び生成装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2003-538981
Applicant:ライカミクロジュステムスヴェツラーゲーエムベーハー
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光刺激装置及び光刺激方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2014-105422
Applicant:浜松ホトニクス株式会社
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顕微鏡システム、及び、試料の屈折率測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2013-143905
Applicant:オリンパス株式会社
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特開昭56-073306
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超解像を達成するための新規なデジタル方法を有する光学顕微鏡
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2010-535931
Applicant:ロウイセゲルクフベルグ
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