光刺激装置及び光刺激方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (4)：長谷川芳樹 , 黒木義樹 , 柴山健一 , 寺澤正太郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2014105422
Publication number (International publication number)：2015219502
Application date： May. 21, 2014
Publication date： Dec. 07, 2015
Summary：

【課題】生体対象物の内部における照射光の集光強度の低下及び集光形状の広がりを抑えることができる光刺激装置及び光刺激方法を提供する。【解決手段】光刺激装置1Aは、生体対象物Bと対向する対物レンズ12と、生体対象物Bに対し、対物レンズ12を介して光を照射するレーザ光源31と、生体対象物Bの表面形状を取得する形状計測ユニット20と、形状計測ユニット20において取得された情報に基づいて、生体対象物Bの表面形状に起因する収差を補正するための収差補正ホログラムデータを作成する制御ユニット40と、収差補正ホログラムデータに基づくホログラムが呈示され、レーザ光源31から生体対象物Bへ照射される光を変調する空間光変調器33とを備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

光を照射することにより生体対象物を刺激する光刺激装置であって、前記生体対象物と対向する対物レンズと、前記生体対象物に対し、前記対物レンズを介して光を照射する光照射部と、前記生体対象物における屈折率差を伴う形状に関する情報を取得する形状取得部と、前記形状取得部において取得された前記情報に基づいて、前記屈折率差を伴う形状に起因する収差を補正するための収差補正ホログラムデータを作成するホログラム作成部と、前記収差補正ホログラムデータに基づくホログラムが呈示され、前記光照射部から前記生体対象物へ照射される光を変調する空間光変調器と、を備えることを特徴とする光刺激装置。

IPC (5)：

G02B 21/00 , G01N 21/17 , A61B 10/00 , G01B 11/24 , A61N 5/067

FI (5)：

G02B21/00 , G01N21/17 610 , A61B10/00 V , G01B11/24 A , A61N5/06 E

F-Term (58)：

2F065AA53 , 2F065BB22 , 2F065BB23 , 2F065CC16 , 2F065EE08 , 2F065FF04 , 2F065FF52 , 2F065GG06 , 2F065GG09 , 2F065GG22 , 2F065JJ03 , 2F065JJ17 , 2F065JJ18 , 2F065JJ26 , 2F065LL09 , 2F065LL12 , 2F065LL14 , 2F065LL20 , 2F065LL30 , 2F065LL46 , 2F065LL51 , 2F065PP24 , 2F065QQ16 , 2F065QQ25 , 2G059AA05 , 2G059BB12 , 2G059EE01 , 2G059EE02 , 2G059EE07 , 2G059EE09 , 2G059FF02 , 2G059GG01 , 2G059JJ02 , 2G059JJ07 , 2G059JJ11 , 2G059JJ13 , 2G059JJ15 , 2G059JJ19 , 2G059JJ22 , 2G059JJ30 , 2G059KK01 , 2G059KK02 , 2G059KK04 , 2G059MM01 , 2H052AA04 , 2H052AA05 , 2H052AB01 , 2H052AC04 , 2H052AC34 , 2H052AD03 , 2H052AD13 , 2H052AF14 , 4C082RA10 , 4C082RC09 , 4C082RL02 , 4C082RL04 , 4C082RL18 , 4C082RL24

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

レーザ光照射装置およびレーザ光照射方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2008-223975 Applicant：浜松ホトニクス株式会社
収差補正方法、この収差補正方法を用いた顕微鏡観察方法、この収差補正方法を用いたレーザ照射方法、収差補正装置、及び、収差補正プログラム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2010-043099 Applicant：浜松ホトニクス株式会社
適応光学系を有する顕微鏡検査法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2012-519780 Applicant：ホワルドフグヘスメドイクアルインストイトウテ

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Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

Adaptive Optics
Development of Adaptive Optics Microscopy for Fine LiveImaging

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