分光放射測定装置

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (2)：鮫島睦 , 言上惠一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2015256210
Publication number (International publication number)：2017120200
Application date： Dec. 28, 2015
Publication date： Jul. 06, 2017
Summary：

【課題】発光ダイオード等を用いた照明器具の全光束を精度良く測定できる分光放射測定装置を提供する。【解決手段】入射スリット21sと、入射スリットからの入射光の波長に応じて出射角を変化させる分散手段22と、分散された光のうち特定の波長帯域の光を出射させる出射スリット23sとを備えた分光器20と、被測定光源から出射された光を、拡散光にして入射スリットに照射する光導入手段10と、分光分布測定の基準とする標準光源1とを備え、標準光源は、発光ダイオードと発光ダイオードからの光により励起される蛍光体とを含み、標準光源の分光分布Ps(λ)と、該分光分布Ps(λ)の2次微分係数Ps”(λ)と、入射スリットの幅と分散手段の分散特性と出射スリットの幅とに基づいて規定されるスリット関数の波長幅Δλ(nm)とが、380nm〜780nmの波長範囲において、Δλ2×(Ps”(λ)/Ps(λ))<0.5を満たす。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

入射スリットと、前記入射スリットから入射された入射光を波長に応じて出射角を変化させる分散手段と、前記分散手段により分散された光のうち特定の波長帯域の光を出射させる出射スリットとを備えた分光器と、被測定光源から出射された光を、拡散光にして前記入射スリットに照射する光導入手段と、分光分布測定の基準とする標準光源と、を備え、前記標準光源は、発光ダイオードと該発光ダイオードからの光により励起される蛍光体とを含み、前記標準光源の分光分布Ps(λ)と、該分光分布Ps(λ)の2次微分係数Ps”(λ)と、前記入射スリットの幅と前記分散手段の分散特性と前記出射スリットの幅とに基づいて規定されるスリット関数の波長幅Δλ(nm)とが、380nm〜780nmの波長範囲において、以下の式(1)の関係を満たすことを特徴とする分光放射測定装置。

IPC (6)：

G01J 3/10 , G01J 1/00 , G01J 1/02 , G01J 3/18 , G01J 3/32 , G01J 1/08

FI (6)：

G01J3/10 , G01J1/00 F , G01J1/02 F , G01J3/18 , G01J3/32 , G01J1/08

F-Term (22)：

2G020AA04 , 2G020BA20 , 2G020CB36 , 2G020CB43 , 2G020CB54 , 2G020CB55 , 2G020CC07 , 2G020CC46 , 2G020CD04 , 2G020CD14 , 2G020CD24 , 2G065AA02 , 2G065AA13 , 2G065AB11 , 2G065AB28 , 2G065BA09 , 2G065BB02 , 2G065BB23 , 2G065BB28 , 2G065BB42 , 2G065DA01 , 2G065DA05

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

白色発光ダイオード
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2009-124903 Applicant：国立台湾科技大学
発光素子の外部量子効率測定方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-015940 Applicant：独立行政法人産業技術総合研究所
特開平1-142421

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Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

照明学会雑誌, 1977, 第61巻第7号, p.22〜33

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