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J-GLOBAL ID:201703008346338481

分析用基板およびその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 長谷川 洋
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2016001087
Publication number (International publication number):2017122618
Application date: Jan. 06, 2016
Publication date: Jul. 13, 2017
Summary:
【課題】 送液回路の撥水性を高め、かつ高精度な分析を可能とする分析用基板およびその製造方法を提供する。 【解決手段】 本発明は、液状物を分析するための分析用基板1であって、液状物を貯留する1または2以上の液体槽10等と、液状物を検出、反応、吸着、脱離もしくは分解する分析部位となる1または2以上の分析部4と、液体槽10等と分析部4等とを繋ぎ、液体槽10等と分析部4との間で液状物を流すための1または2以上の流路13等とを備え、分析部4は、その内側の面に、液状物を検出、反応、吸着、脱離もしくは分解する分析に要するコート層9を備え、かつ分析用基板1の一方の表面から着脱自在に構成され、分析部4を除く少なくとも液体槽10等および流路13等に、撥水処理およびブロッキング処理の少なくともいずれか1つを含む表面処理がなされている分析用基板1、およびその製造方法に関する。【選択図】図6
Claim (excerpt):
液状物を分析するための分析用基板であって、 前記液状物を貯留する1または2以上の液体槽と、 前記液状物を検出、反応、吸着、脱離もしくは分解する分析部位となる1または2以上の分析部と、 前記液体槽と前記分析部とを繋ぎ、前記液体槽と前記分析部との間で前記液状物を流すための1または2以上の流路と、 を備え、 前記分析部は、その内側の面に、前記液状物を検出、反応、吸着、脱離もしくは分解する分析に要するコート層を備え、かつ前記分析用基板の一方の表面から着脱自在に構成され、 前記分析部を除く少なくとも前記液体槽および前記流路に、撥水処理およびブロッキング処理の少なくともいずれか1つを含む表面処理がなされている分析用基板。
IPC (4):
G01N 35/08 ,  G01N 35/00 ,  B81B 1/00 ,  B81C 3/00
FI (4):
G01N35/08 A ,  G01N35/00 D ,  B81B1/00 ,  B81C3/00
F-Term (14):
2G058AA09 ,  2G058CC03 ,  2G058CC08 ,  2G058EA14 ,  2G058GA02 ,  3C081AA01 ,  3C081AA17 ,  3C081BA24 ,  3C081CA05 ,  3C081CA38 ,  3C081CA40 ,  3C081DA06 ,  3C081DA10 ,  3C081EA26
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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