品質劣化推定装置、品質劣化推定方法、及びプログラム

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (3)：伊東忠重 , 伊東忠彦 , 石原隆治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2016080620
Publication number (International publication number)：2017192041
Application date： Apr. 13, 2016
Publication date： Oct. 19, 2017
Summary：

【課題】通信網におけるEnd-to-Endの計測値を用いてノード毎の劣化量の値を推定する場合に、データ欠損が存在しても推定精度の低下を抑制する技術を提供する。【解決手段】通信網を構成するノードの品質劣化を推定する品質劣化推定装置において、2点のノード間の品質計測値と、各計測における経路情報と、ノード間の劣化の類似性を表すグラフの構造に対応するグラフラプラシアン行列とを入力する入力手段と、各計測の品質計測値から構成されるベクトルが、各計測の経路情報から構成される行列と各ノードの劣化量の値から構成されるベクトルとの積に等しいという関係と、前記グラフラプラシアン行列の固有ベクトルを並べた行列とに基づいて導出される推定式を解くことにより、各ノードの劣化量の推定値を算出する演算手段と、前記各ノードの劣化量の推定値、又は、当該推定値に基づいて得られる情報を出力する出力手段とを備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

通信網を構成するノードの品質劣化を推定する品質劣化推定装置であって、 2点のノード間の品質計測値と、各計測における経路情報と、ノード間の劣化の類似性を表すグラフの構造に対応するグラフラプラシアン行列とを入力する入力手段と、各計測の品質計測値から構成されるベクトルが、各計測の経路情報から構成される行列と各ノードの劣化量の値から構成されるベクトルとの積に等しいという関係と、前記グラフラプラシアン行列の固有ベクトルを並べた行列とに基づいて導出される推定式を解くことにより、各ノードの劣化量の推定値を算出する演算手段と、前記各ノードの劣化量の推定値、又は、当該推定値に基づいて得られる情報を出力する出力手段とを備えることを特徴とする品質劣化推定装置。

IPC (1)：

H04L 12/70

FI (1)：

H04L12/70 100Z

F-Term (7)：

5K030GA14 , 5K030HD03 , 5K030JA10 , 5K030JA11 , 5K030MB20 , 5K030MC07 , 5K030MC09

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

通信品質劣化要因分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2013-254557 Applicant：日本電信電話株式会社

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

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