光学系構造体、光学測定装置及び光学測定方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (2)：羽立幸司 , 峰雅紀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2016093103
Publication number (International publication number)：2017201268
Application date： May. 06, 2016
Publication date： Nov. 09, 2017
Summary：

【課題】本発明は、光路部の媒質に固体又は液体を用いた光学測定装置において、ラマン光を抑制し、測定精度を向上させることが可能な光学系構造体等を提供することを目的とする。【解決手段】本発明の第1の観点は、光学測定系において測定試料に照射光を照射して発生する観測光を観測する蛍光測定装置であって、前記照射光を照射する光源部と、前記観測光を透過する光路部と、前記観測光を観測する測定部と、第1偏光成分を通す偏光フィルタ部とを備え、前記光路部は、媒質として固体又は液体が用いられており、前記偏光フィルタ部は、当該偏光フィルタ部を透過する光の偏光成分のうち、前記観測光の遮光率よりも、前記媒質と前記照射光との相互作用によって前記照射光がラマンシフトして生じるラマン光の遮光率が大きくなる偏光成分を遮る、蛍光測定装置である。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

光学測定系において測定試料に照射光を照射して発生する観測光を観測する蛍光測定装置であって、前記照射光を照射する光源部と、前記観測光を透過する光路部と、前記観測光を観測する測定部と、第1偏光成分を通す偏光フィルタ部とを備え、前記光路部は、媒質として固体又は液体が用いられており、前記偏光フィルタ部は、当該偏光フィルタ部を透過する光の偏光成分のうち、前記観測光の遮光率よりも、前記媒質と前記照射光との相互作用によって前記照射光がラマンシフトして生じるラマン光の遮光率の方が大きい偏光成分を遮る、蛍光測定装置。

IPC (1)：

G01N 21/64

FI (2)：

G01N21/64 Z , G01N21/64 A

F-Term (29)：

2G043DA06 , 2G043EA01 , 2G043GA01 , 2G043GB16 , 2G043GB28 , 2G043HA01 , 2G043HA07 , 2G043HA15 , 2G043JA02 , 2G043KA02 , 2G043KA05 , 2G043KA07 , 2G043KA09 , 2G043LA02 , 2G043MA01 , 2G043MA16 , 2G059EE07 , 2G059GG01 , 2G059GG02 , 2G059HH02 , 2G059HH06 , 2G059JJ02 , 2G059JJ11 , 2G059JJ19 , 2G059JJ30 , 2G059KK02 , 2G059LL04 , 2G059LL10 , 2G059NN01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

光誘起蛍光測定器
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2012-171825 Applicant：国立大学法人九州大学, ウシオ電機株式会社
レーザー蛍光検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-316552 Applicant：株式会社島津製作所
顕微鏡
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-199554 Applicant：オリンパス株式会社

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