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J-GLOBAL ID：201703017988070813

照明方法および顕微観察装置

Inventor： 高橋 哲 ,  高増 潔 ,  工藤 良太 ,  臼杵 深
Applicant, Patent owner： 国立大学法人 東京大学 ,  国立大学法人静岡大学
Agent (1)： 特許業務法人アイテック国際特許事務所
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2014500972
Patent number：6183915
Application date： Feb. 25, 2013
Claim (excerpt)：

【請求項1】 試料の顕微観察される試料面からの光の強度分布に基づいて該試料面を解像する顕微観察装置に用いられる照明方法であって、 光源部からの光から生成される二光波の平面波を斜方方向から対向するよう照射することにより得られる二光束定在波を前記試料面に照射する一方で前記光源部からの光から生成される一光波の平面波の振幅と位相を調整して得られるバイアス平面波を前記試料面に対して法線方向から照射することによって三光束定在波を前記試料面への照射し、 前記バイアス平面波は、位相が前記二光束定在波の電場変位が前記試料面上の各位置で値0になる程度の時期として予め定められた基準時期を境にして電場変位が前記試料面上で位置に拘わらず等しい変位をもって正側と負側とに交互に振れるように調整されており、振幅が前記試料面上に存在する他の光波群からなる電場変位を正側のみまたは負側のみとなる程度まで嵩上げするよう調整されている平面波である、 ことを特徴とする照明方法。

IPC (2)：

G02B 21/06 ( 200 6.01) ,  G01N 21/956 ( 200 6.01)

FI (2)：

G02B 21/06 ,  G01N 21/956 A

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• Three-Dimensional Resolution Doubling in Wide-Field Fluorescence Microscopy by Structured Illuminati