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J-GLOBAL ID：201802236824627297   Reference number：18A1913786

Interface Induced STM Image at Ultrathin Ag(111) Films on Si(111)√3×√3-B Substrates

Si(111)√3×√3-B基板上のAg(111)超薄膜のSTM像に現われる埋もれた界面構造

Author (6)： FUKUMOTO HIROYUKI (東京工業大学大学院総合理工学研究科) ,  YOSHIIKE YUSAKU (東京工業大学大学院総合理工学研究科) ,  TAJIRI HIROO (高輝度光科学研究センター利用研究促進部門) ,  YAMAZAKI SHIRO (東京工業大学理学院) ,  NAKATSUJI KAN (東京工業大学物質理工学院) ,  HIRAYAMA HIROYUKI (東京工業大学理学院)
Material： 表面と真空  (Vacuum and Surface Science)
Volume： 61  Issue： 10  Page： 657-662(J-STAGE)  Publication year： 2018 
JST Material Number： G0194B  ISSN： 2433-5835  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *surface structure ,  *crystal orientation ,  *Silver ,  *ultrathin film ,  *scanning tunneling microscope ,  *nanostructure ,  voltage ,  strain ,  lattice match ,  periodic structure ,  periodic variation ,  structure (construction) ,  X-Ray Diffraction ,  *interface structure ,  embedding structure ,  *Silicon(111) ,  *structure
Semi thesaurus term： *Si(111) ,  *nanoripple ,  bias voltage ,  geometric distortion

Author keywords (8)： scanning tunneling microscope ,  buried interface ,  x-ray diffraction ,  ultrathin film ,  scanning tunneling microscope ,  buried interface ,  x-ray diffraction ,  ultrathin film

JST classification (1)： Surface structure of semiconductors  (BK15030A)

Reference (29)：

• 1) D.R. Heslinga, H.H. Weitering, D.P. vand der Werf, T.M. Klapwijk and T. Hibma : Phys. Rev. Lett. 64, 1589 (1990).
• 2) R.F. Schmitsdorf, T.U. Kampen and W. Mönch : Surf. Sci. 324, 249 (1995).
• 3) W. Long, Y. Li and R. Tung : Surf. Sci. 610, 48 (2013).
• 4) W. Mönch : J. Vac. Sci. Technol., B 17, 1867 (1999).
• 5) H. Hirayama, T. Yamaguchi, H. Ikezawa and K. Tanaka : Phys. Rev. B 66, 073301 (2002).

Terms in the title (5)： Si ,  Ag ,  薄膜 ,  STM ,  界面構造