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J-GLOBAL ID：201802237439140933   Reference number：18A0887405

In situ characterization of the film coverage and the charge transport in the alkylated-organic thin film transistor

アルキル化有機薄膜トランジスタにおける膜被覆率および電荷輸送のin situ特性評価

Author (7)： WATANABE Takeshi (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Hyogo, JPN) ,  KOGANEZAWA Tomoyuki (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Hyogo, JPN) ,  KIKUCHI Mamoru (Iwate Univ., Morioka, JPN) ,  MURAOKA Hiroki (Iwate Univ., Morioka, JPN) ,  OGAWA Satoshi (Iwate Univ., Morioka, JPN) ,  YOSHIMOTO Noriyuki (Iwate Univ., Morioka, JPN) ,  HIROSAWA Ichiro (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Hyogo, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics  (JJAP)
Volume： 57  Issue： 3S2  Page： 03EG14.1-03EG14.4  Publication year： Mar. 2018 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *Alkylation ,  *thin film transistor ,  coverage factor ,  test ,  electrical property ,  atomic force microscope ,  *charge transport ,  in situ experiment ,  sulfur heterocyclic compound
Semi thesaurus term： *organic thin-film transistor

JST classification (2)： Thin films of organic compounds  (BK14070L) ,  Electric conduction in organic compounds  (BM03045F)

Substance index (1)： Thiophene

Terms in the title (5)： アルキル化 ,  有機薄膜トランジスタ ,  被覆率 ,  電荷輸送 ,  特性評価