Art

J-GLOBAL ID：201802286121367970   Reference number：18A1077339

Observation of Structure of Surfaces and Interfaces by Synchrotron X-ray Diffraction: Atomic-Scale Imaging and Time-Resolved Measurements

シンクロトロンX線回折による表面および界面の構造の観察:原子スケールイメージングと時間分解測定

Author (4)： WAKABAYASHI Yusuke (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  SHIRASAWA Tetsuroh (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN) ,  VOEGELI Wolfgang (Tokyo Gakugei Univ., Tokyo, JPN) ,  TAKAHASHI Toshio (Tokyo Gakugei Univ., Tokyo, JPN)
Material： Journal of the Physical Society of Japan  (JPSJ)
Volume： 87  Issue： 6  Page： 061010.1-061010.12  Publication year： Jun. 15, 2018 
JST Material Number： G0509A  ISSN： 0031-9015  CODEN： JUPSA  Document type： Article
Article type： 文献レビュー  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *surface structure ,  imaging ,  X-ray detector ,  *algorithm ,  nondestructive measurement ,  metal ,  *surface reconstruction ,  organic semiconductor ,  *ionic liquid ,  *electric double layer ,  dynamics ,  *interface structure ,  atomic-scale ,  *atomic arrangement ,  one-dimensional structure ,  diffractometer ,  *surface wettability ,  *synchrotron x-ray diffraction ,  *structure
Semi thesaurus term： *synchrotron x-ray diffraction ,  imaging ,  time-resolved imaging ,  noncontact ,  functional material ,  silicon

JST classification (2)： X-ray diffraction methods  (BK01020I) ,  Surface structure of semiconductors  (BK15030A)

Reference (191)：

• S. Andrews and R. Cowley, J. Phys. C 18, 6427 (1985).
• I. Robinson, Phys. Rev. B 33, 3830 (1986).
• R. Feidenhans’l, Surf. Sci. Rep. 10, 105 (1989).
• T. Takahashi and S. Nakatani, Surf. Sci. 326, 347 (1995).
• T. Takahashi, S. Nakatani, T. Ishikawa, and S. Kikuta, Surf. Sci. 191, L825 (1987).

Terms in the title (5)： シンクロトロンX線回折 ,  界面 ,  観察 ,  原子スケール ,  イメージング