Art

J-GLOBAL ID：201802287602605514   Reference number：18A1561570

X線光電子分光法による高分子材料の表面分析と解析

Author (2)： KIMURA YUJI (日本大 生産工) ,  YAMADA KAZUNORI (日本大 生産工)
Material： 強化プラスチックス  (Reinforced Plastics)
Volume： 64  Issue： 8  Page： 331-338  Publication year： Aug. 20, 2018 
JST Material Number： G0309A  ISSN： 0452-9685  CODEN： KYPUA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-ray photoelectron spectroscopy ,  *macromolecule ,  *surface analysis ,  sample preparation ,  spectrum ,  chemical shift ,  molecular structure ,  nuclear binding energy ,  structure analysis ,  molecular orbital ,  functionalization ,  group(radical) ,  chemical modification ,  mean free path ,  depth analysis
Semi thesaurus term： functional group

JST classification (2)： Electron spectroscopic determination of structures  (BK01050P) ,  Spectra of polymers  (CG02033O)

Reference (42)：

• 中山陽一,石谷炯,熱硬化性樹脂,8,8(1987)
• 岩田博夫,松田武久,「ESCA-表面分析(I)」,高分子表面の基礎と応用(上)(筏義人編),化学同人,69(1986)
• 吉原一紘,真空,56,153(2013)
• 工藤正博,二瓶好正,鎌田仁,表面,18,418(1980)
• 染野檀,安盛岩雄編,「表面分析」付表5(1986)

Terms in the title (4)： X線光電子分光法 ,  高分子材料 ,  表面分析 ,  解析