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J-GLOBAL ID:201803000321820650
三次元計測装置、ロボット、ロボット制御装置、及びロボットシステム
Inventor:
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,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
志賀 正武
, 佐伯 義文
, 大浪 一徳
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2016149401
Publication number (International publication number):2018017653
Application date: Jul. 29, 2016
Publication date: Feb. 01, 2018
Summary:
【課題】対象物が光沢を有する物体や半透明な物体であっても、対象物の光学特性による誤差を抑制し、三次元計測を精度よく行うことができる三次元計測装置を提供する。【解決手段】対象物を含む撮像領域が第1撮像部11により撮像された第1撮像画像と、撮像領域が第2撮像部12により撮像された第2撮像画像とに基づいて対象物の三次元形状を計測する三次元計測装置30であって、第1撮像画像と第2撮像画像に基づいて、第1撮像画像内において所定処理を行う対象となる第1対象領域のうち所定条件を満たす第1領域の大きさと、第2撮像画像内において所定処理を行う対象となる第2対象領域のうち所定条件を満たす第2領域の大きさとの少なくとも一方に基づいて、第1撮像部及び前記第2撮像部が対象物を撮像する際の撮像条件を変化させ三次元計測する、三次元計測装置。【選択図】図4
Claim (excerpt):
対象物を含む撮像領域が第1撮像部により撮像された第1撮像画像と、前記撮像領域が第2撮像部により撮像された第2撮像画像とに基づいて前記対象物の三次元形状を計測する三次元計測装置であって、
前記第1撮像画像と前記第2撮像画像に基づいて、前記第1撮像画像内において所定処理を行う対象となる第1対象領域のうち所定条件を満たす第1領域の大きさと、前記第2撮像画像内において前記所定処理を行う対象となる第2対象領域のうち前記所定条件を満たす第2領域の大きさとの少なくとも一方に基づいて、前記第1撮像部及び前記第2撮像部が前記対象物を撮像する際の撮像条件を変化させ三次元計測する、
三次元計測装置。
IPC (3):
G01B 11/24
, G01B 11/26
, B25J 13/08
FI (3):
G01B11/24 K
, G01B11/26 H
, B25J13/08 A
F-Term (23):
2F065AA37
, 2F065AA53
, 2F065BB23
, 2F065BB25
, 2F065DD02
, 2F065DD03
, 2F065FF04
, 2F065FF05
, 2F065HH07
, 2F065JJ19
, 2F065JJ26
, 2F065QQ06
, 2F065QQ24
, 2F065QQ25
, 2F065QQ26
, 2F065QQ31
, 2F065TT06
, 3C707KS03
, 3C707KS04
, 3C707KT03
, 3C707KT06
, 3C707KT11
, 3C707LT06
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
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情報処理システムおよび情報処理方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2015-000389
Applicant:株式会社リコー
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検査装置、検査方法およびプログラム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2014-119100
Applicant:株式会社キーエンス
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