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J-GLOBAL ID：201902235911146775   Reference number：19A2394105

Subnanometer-Scale Measurements at Solid-Liquid Interfaces by Atomic Force Microscopy

原子間力顕微鏡によるサブナノスケール固液界面計測

Author (1)： FUKUMA TAKESHI (金沢大 ナノ生命科研)
Material： 化学とマイクロ・ナノシステム  (Chemistry and Micro-Nano Systems)
Volume： 18  Issue： 2  Page： 1-7  Publication year： Oct. 01, 2019 
JST Material Number： L7086A  ISSN： 1881-364X  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： atomic force microscope ,  *solid-liquid interface ,  *nanostructure ,  *microscopy ,  tribology ,  environmental science ,  surface structure ,  crystal growth ,  electrochemistry ,  three dimension ,  molecular chain ,  resolving power ,  visualization
Semi thesaurus term： nanoscale ,  interfacial structure ,  atomic-scale ,  *Microscopy, Atomic Force

JST classification (2)： Solid-liquid interface  (CB12050B) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Reference (30)：

• Binnig, G.; Quate, C. F., Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 930-933.
• Fukuma, T.; Kimura, M.; Kobayashi, K.; Matsushige, K.; Yamada, H., Rev. Sci. Instrum. 2005, 76, 053704.
• Fukuma, T.; Kobayashi, K.; Matsushige, K.; Yamada, H., Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 034101.
• Miyata, K.; Tracey, J.; Miyazawa, K.; Haapasilta, V.; Spijker, P.; Kawagoe, Y.; Foster, A. S.; Tsukamoto, K.; Fukuma, T., Nano Lett. 2017, 17, 4083-4089.
• Fukuma, T.; Ueda, Y.; Yoshioka, S.; Asakawa, H., Phys. Rev. Lett. 2010, 104, 016101.

Terms in the title (5)： 原子間力顕微鏡 ,  サブ ,  ナノスケール ,  固液界面 ,  計測