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J-GLOBAL ID：201902276293877792   Reference number：19A1374826

Al(111)3×3超周期ゲルマネンの角度分解光電子分光計測

Author (9)： KUBO OSAMU (大阪大 大学院) ,  KINOSHITA SEIJIRO (大阪大 大学院) ,  SATO HITOSHI (広大 HiSOR) ,  MIYAMOTO KOJI (広大 HiSOR) ,  ENDO SATOSHI (大阪大 大学院) ,  SUGAHARA RYUJI (大阪大 大学院) ,  TABATA HIROSHI (大阪大 大学院) ,  OKUDA TAICHI (広大 HiSOR) ,  KATAYAMA MITSUHIRO (大阪大 大学院)
Material： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
Volume： 66th  Page： ROMBUNNO.10p-PA5-9  Publication year： Feb. 25, 2019 
JST Material Number： Y0054B  ISSN： 2758-4704  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： angle resolved spectroscopy ,  *graphene ,  *band gap ,  *sputtering ,  *period (cycle) ,  *substrate (plate) ,  Germanene ,  atomic arrangement ,  *monolayer film ,  *silicene ,  *Dirac cone ,  *surface band structure ,  incident light ,  angle-resolved photoemission spectroscopy ,  deposition rate
Semi thesaurus term： aluminium ,  angle-resolved photoemission spectroscopy ,  anneal ,  deposition rate ,  *LEED ,  *Brillouin zone ,  *honeycomb structure

JST classification (2)： Semiconductor thin films  (BK14040E) ,  Surface structure of semiconductors  (BK15030A)

Terms in the title (5)： Al ,  周期 ,  ゲルマネン ,  角度分解光電子分光 ,  計測