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J-GLOBAL ID：201902290432081585   Reference number：19A0610730

Electric Field Imaging at Atomic Resolution by DPC STEM

DPC STEMによる原子分解能電場観察

Author (6)： SEKI TAKEHITO (東京大学大学院工学系研究科総合研究機構) ,  SANCHEZ-SANTOLINO Gabriel (東京大学大学院工学系研究科総合研究機構) ,  ISHIKAWA RYO (東京大学大学院工学系研究科総合研究機構) ,  FINDLAY Scott D. (Monash University) ,  IKUHARA YUICHI (東京大学・ファインセラミックスセンター ナノ構造研究所) ,  SHIBATA NAOYA (東京大学・ファインセラミックスセンター ナノ構造研究所)
Material： まてりあ  (Materia Japan)
Volume： 58  Issue： 2  Page： 104(J-STAGE)  Publication year： 2019 
JST Material Number： F0163A  ISSN： 1340-2625  CODEN： MTERE2  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *electron microscopy ,  *electric field ,  observation and view ,  contrast ,  differential ,  *strontium compound ,  titanate ,  phase contrast ,  Microscopy, Electron, Transmission
Semi thesaurus term： transmission electron microscopy

Author keywords (2)： STEM (scanning transmission electron microscopy) ,  DPC(differential phase contrast)

JST classification (2)： Microscopy determination of structures  (BK01040E) ,  Properties of ceramics and ceramic whiteware  (YC03030G)

Reference (2)：

• (1) N. Shibata et al.: Acc. Chem. Res., 50(2017), 1502-1512.
• (2) N. Shibata et al.: Nat. Commun., 8(2017), 15631.

Terms in the title (5)： DPC ,  STEM ,  原子分解能 ,  電場 ,  観察