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J-GLOBAL ID：201903011958909599
超音波診断装置、超音波画像解析方法、超音波感染解析方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
渥美 久彦
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2015132035
Publication number (International publication number)：2017012427
Patent number：6533984
Application date： Jun. 30, 2015
Publication date： Jan. 19, 2017
Claim (excerpt)：
【請求項1】 生体組織に対して照射された超音波の反射波から取得した反射波信号に基づいて、前記生体組織の断層画像を得る超音波診断装置において、
前記断層画像内の少なくとも一部に解析領域を設定する解析領域設定手段と、
前記解析領域における前記生体組織からの複数の反射波信号を取得し、それら反射波信号の強度データを演算により求める信号強度演算手段と、
前記強度データから振幅確率密度分布を演算により求める振幅確率密度分布演算手段と、
前記振幅確率密度分布に基づいて、前記生体組織において反射源となる散乱体の密度を推定する密度推定手段と、
前記振幅確率密度分布に基づいて、前記反射源となる散乱体の大きさを推定するサイズ推定手段と、
前記密度推定手段及び前記サイズ推定手段の少なくとも一方の推定結果に基づいて、前記生体組織の性状を解析する組織性状解析手段と
を備え、
前記振幅確率密度分布演算手段は、形状パラメータを含んで表現された理論式にさらに尺度パラメータを追加してなる一般化仲上分布であって、前記振幅確率密度分布に従うものを演算により求め、その求められた一般化仲上分布についての前記形状パラメータ及び前記尺度パラメータを算出し、
前記密度推定手段は、前記形状パラメータ及び前記尺度パラメータのうちの少なくとも一方に基づいて、前記散乱体の密度を推定する
ことを特徴とする超音波診断装置。
IPC (1)：
FI (1)：
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
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立体表面形状定量化方法、及びこれを応用した悪性腫瘍自動識別方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平10-305419
Applicant：三谷産業株式会社
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超音波診断装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2001-254630
Applicant：株式会社東芝
Cited by examiner (2)
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立体表面形状定量化方法、及びこれを応用した悪性腫瘍自動識別方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平10-305419
Applicant：三谷産業株式会社
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超音波診断装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2001-254630
Applicant：株式会社東芝
Article cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (1)
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