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J-GLOBAL ID：201903018807587624

基準源モジュール、電気・電子機器、遠隔校正方法

Inventor： 金子 晋久 ,  丸山 道隆 ,  浦野 千春 ,  山王丸 英二 ,  吉田 春雄 ,  米澤 隆仁 ,  金井 貴宏
Applicant, Patent owner： 国立研究開発法人産業技術総合研究所 ,  株式会社エーディーシー
Agent (3)： 中尾 直樹 ,  中村 幸雄 ,  義村 宗洋
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2015013004
Publication number (International publication number)：2016138776
Patent number：6536781
Application date： Jan. 27, 2015
Publication date： Aug. 04, 2016
Claim (excerpt)：

【請求項1】 電気・電子機器に着脱可能であり、 計量標準によって校正される電圧基準源を含む 基準源モジュールであって、 上記電圧基準源の出力端子と上記電気・電子機器の入力端子の間に発生する熱起電力を除去するための熱起電力除去機構を含む ことを特徴とする基準源モジュール。

IPC (3)：

G01R 35/00 ( 200 6.01) ,  G01R 1/28 ( 200 6.01) ,  G01D 18/00 ( 200 6.01)

FI (3)：

G01R 35/00 Z ,  G01R 1/28 ,  G01D 18/00

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• IC試験装置の較正方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-294711   Applicant：株式会社アドバンテスト
• 予測値算出方法および予測値算出機能付き計測機器
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-179330   Applicant：横河電機株式会社
• 測定ポ-ト定温化装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-114389   Applicant：ヒューレット・パッカード・カンパニー

Cited by examiner (3)

• IC試験装置の較正方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-294711   Applicant：株式会社アドバンテスト
• 予測値算出方法および予測値算出機能付き計測機器
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-179330   Applicant：横河電機株式会社
• 測定ポ-ト定温化装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-114389   Applicant：ヒューレット・パッカード・カンパニー