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J-GLOBAL ID：201903019847563007

変位測定用治具

Inventor： 中野 幸長 ,  伊藤 始 ,  小森 徹 ,  松田 幸一
Applicant, Patent owner： 株式会社アイペック ,  公立大学法人 富山県立大学 ,  中日本ハイウェイ・エンジニアリング名古屋株式会社
Agent (1)： 廣澤 勲
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2016123555
Publication number (International publication number)：2017227528
Patent number：6555589
Application date： Jun. 22, 2016
Publication date： Dec. 28, 2017
Claim (excerpt)：

【請求項1】 第一の構造物の近傍に設置された第二の構造物の、前記第一の構造物に対する変位を測定するための第一及び第二治具が設けられ、 前記第一治具は、前記第一の構造物の表面の第一基準面に対して交差する方向に配置された第一縦起立板と、前記第一縦起立板に対して直角方向に配置された第一横起立板とが設けられ、 前記第二治具は、前記第二の構造物の表面の、前記第一基準面とほぼ面一な第二基準面に対して交差する方向に配置された第二縦起立板と、前記第二縦起立板に対して直角方向に配置された第二横起立板とが設けられ、 前記第一及び第二治具は、前記第一及び第二の構造物に取り付けられた状態で、前記第一縦起立板と前記第二縦起立板とが互いに対向し、前記第一横起立板と前記第二横起立板とが互いに対向することを特徴とする変位測定用治具。

IPC (1)：

G01B 5/30 ( 200 6.01)

FI (1)：

G01B 5/30

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 変位計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2009-193097   Applicant：大成建設株式会社, 中大実業株式会社
• 層間変位計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2009-100493   Applicant：株式会社間組