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J-GLOBAL ID：202002225660301303   Reference number：20A2080933

Development of Measurement Technique for Bulk Magnet with Residual Magnetization using Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy

磁気閉回路を用いた残留磁化を有するバルク磁石の硬X線光電子分光計測技術の開発

Author (10)： YASUI AKIRA (高輝度光科学研究セ) ,  YASUI AKIRA (物質・材料研究機構) ,  IKENAGA EIJI (高輝度光科学研究セ) ,  UENO WAKANA (高輝度光科学研究セ) ,  UENO WAKANA (物質・材料研究機構) ,  TSUJI NARUKI (高輝度光科学研究セ) ,  KOTANI YOSHINORI (高輝度光科学研究セ) ,  HIROSAWA SATOSHI (物質・材料研究機構) ,  NAKAMURA TETSUYA (高輝度光科学研究セ) ,  NAKAMURA TETSUYA (物質・材料研究機構)
Material： SPring-8/SACLA利用研究成果集(Web)  (SPring-8/SACLA Research Report (Web))
Volume： 8  Issue： 2  Page： WEB ONLY  Publication year： Aug. 21, 2020 
JST Material Number： U1844A  ISSN： 2187-6886  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： magnetic circuit ,  *X-ray photoelectron spectroscopy ,  *residual magnetization ,  permanent magnet ,  magnetization ,  *ferromagnet ,  *magnetic circular dichroism ,  *iron base alloy ,  boron containing alloy ,  neodymium containing alloy ,  *hard X-ray photoelectron spectroscopy
Semi thesaurus term： HAXPES ,  磁気閉回路 ,  sintered magnet ,  magnetic field leakage

JST classification (2)： Magnetic properties of metals  (BM06040T) ,  Electron spectroscopy  (BM09060K)

Reference (20)：

• S. Hüfner, Photoelectron Spectroscopy, Springer, Berlin-Hidelberg, 1995.
• K. Nomura et al., Appl. Phys. Lett. 92, 202117 (2008).
• J. C. Woicik, Hard X-Ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES) (Springer International Publishing, Cham, 2016).
• Y. Takata et al., Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A 547, 50 (2005).
• E. Ikenaga et al., J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 190, 180 (2013).

Terms in the title (8)： 磁気 ,  閉回路 ,  残留磁化 ,  バルク ,  磁石 ,  硬X線光電子分光 ,  計測 ,  開発