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J-GLOBAL ID：202002255612312878   Reference number：20A1604045

Development of a Secondary Neutral Mass Spectrometer for submicron Imaging mass spectrometry

サブミクロンイメージング質量分析用の二次中性質量分析計の開発

Author (8)： KAWAI Yosuke (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  TERADA Kentaro (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  HONDO Toshinobu (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  HONDO Toshinobu (MS-Cheminformatics, LLC, Inabe-gun, JPN) ,  AOKI Jun (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  ISHIHARA Morio (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  TOYODA Michisato (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  NAKAMURA Ryosuke (Osaka Univ., Osaka, JPN)
Material： JPS Conference Proceedings (Web)
Volume： 31  Page： ROMBUNNO.011065 (WEB ONLY)  Publication year： Mar. 27, 2020 
JST Material Number： U1201A  ISSN： 2435-3892  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *mass spectrometer ,  measurement ,  *image processing system ,  silicon carbide ,  isotopic ratio ,  secondary ion mass spectrometry ,  *solar system(celestial) ,  imaging system ,  isotope measurements
Semi thesaurus term： SIMS(analysis)

JST classification (2)： Mass spectrometry  (CC03013N) ,  Solar system in general  (DB04010T)

Terms in the title (5)： サブ ,  イメージング質量分析 ,  中性 ,  質量分析計 ,  開発