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J-GLOBAL ID：202002257232416322   Reference number：20A0993345

Higher-order topological edge states in quasi-one-dimensional Bi₄Br₄ probed by microwave impedance microscopy and ARPES

マイクロ波インピーダンス顕微鏡およびARPESで調べる擬一次元Bi₄Br₄の高次トポロジカルエッジ状態

Author (29)： NOGUCHI RYO (東大 物性研) ,  KOBAYASHI KEN (東京工大 フロンティア創造共同研セ) ,  KURODA KENTA (東大 物性研) ,  TAKAHASHI TAKANARI (東京工大 フロンティア創造共同研セ) ,  JIANG Z. (テキサス大) ,  XU Z. (テキサス大) ,  LEE D. (テキサス大) ,  HIRAYAMA MOTOAKI (理研 CEMS) ,  OCHI MASAYUKI (大阪大 大学院) ,  SHIRASAWA TETSURO (産業技術総合研) ,  ZHANG P. (東大 物性研) ,  LIN C. (東大 物性研) ,  BAREILLE C. (東大 物性研) ,  SAKURAGI SHUNSUKE (東大 物性研) ,  KUNISADA SATOSHI (東大 物性研) ,  KUROKAWA KIFU (東大 物性研) ,  YAJI KOICHIRO (東大 物性研) ,  HARASAWA AYUMI (東大 物性研) ,  KANDYBA V. (Elettra) ,  GIAMPIETRI A. (Elettra) ,  BARINOV A. (Elettra) ,  KIM T. (Diamond Light Source) ,  CACHO C. (Diamond Light Source) ,  SHIN S. (東大 物性研) ,  ARITA RYOTARO (理研 CEMS) ,  ARITA RYOTARO (東大 工) ,  LAI K. (テキサス大) ,  SASAGAWA TAKAO (東京工大 フロンティア創造共同研セ) ,  KONDO TAKESHI (東大 物性研)
Material： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
Volume： 75  Issue： 1  Page： ROMBUNNO.19aA42-1  Publication year： Mar. 23, 2020 
JST Material Number： S0671C  ISSN： 2189-079X  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： angle resolved spectroscopy ,  Photoelectron Spectroscopy ,  one dimension ,  state ,  laminate structure ,  van der Waals force ,  topological phase ,  *topological insulator ,  *microwave ,  *impedance ,  band gap ,  *angle-resolved photoemission spectroscopy ,  *edge state
Semi thesaurus term： *van der Waals interaction ,  quasi one-dimension

JST classification (2)： Electronic structure of crystalline insulators  (BM02070Y) ,  Electron spectroscopic determination of structures  (BK01050P)

Terms in the title (5)： マイクロ波 ,  インピーダンス ,  顕微鏡 ,  ARPES ,  擬一次元