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J-GLOBAL ID：202002260646871016   Reference number：20A0835767

Modification of the IRI Electron Density Profile from an Observation Ionogram Using the Full Wave Method in the Lower Ionosphere

下部電離層における全波法を用いた観測イオノグラムからのIRIElectron密度プロファイルの修正【JST・京大機械翻訳】

Author (3)： Fukami Tetsuo (National Institute of Technology, Ishikawa College,Tsubata, Ishikawa,Japan,929-0392) ,  Nagano Isamu (Kanazawa University,Japan) ,  Higashi Ryoichi (National Institute of Technology, Ishikawa College,Tsubata, Ishikawa,Japan,929-0392)
Material： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conf Proc)
Volume： 2019  Issue： PIERS-Spring  Page： 2764-2767  Publication year： 2019 
JST Material Number： W2441A  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： As the International Reference...

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Thesaurus term： density distribution ,  *ionosphere ,  lower ionosphere ,  international standard ,  reflectivity ,  *ionogram ,  electron density distribution
Semi thesaurus term： 遅延時間 ,  衝突周波数 , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (1)： Graphic and image processing in general  (JE04010I)

Terms in the title (4)： 下部電離層 ,  観測 ,  イオノグラム ,  密度プロファイル