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J-GLOBAL ID：202003010374599479

比熱とエンタルピー変化の測定方法および測定装置

Inventor： 渡辺 博道 ,  小無 健司 ,  森本 恭一 ,  渡部 雅 ,  加藤 正人 ,  有田 裕二
Applicant, Patent owner： 国立研究開発法人産業技術総合研究所 ,  国立大学法人東北大学 ,  国立研究開発法人日本原子力研究開発機構 ,  国立大学法人福井大学
Agent (3)： 西澤 和純 ,  大槻 真紀子 ,  大浪 一徳
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2018240252
Publication number (International publication number)：2020101462
Application date： Dec. 21, 2018
Publication date： Jul. 02, 2020
Summary：

【課題】高温状態の試料の比熱とエンタルピー変化を、試料の物理的・化学的特性によらず、短時間で正確に測定することを可能にする比熱とエンタルピー変化の測定方法および測定装置を提供する。【解決手段】本発明の比熱とエンタルピー変化の測定方法は、通電加熱により、試料の温度を昇温させる昇温段階と、前記試料の温度を保温する保温段階と、を交互に複数回繰り返して行い、全ての前記保温段階について、直近の前記保温段階との間のエンタルピー変化を求め、最初の保温段階の温度に対する各保温段階の温度におけるエンタルピー変化の温度関数を温度微分することにより、前記試料の比熱を求める。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

通電加熱により、試料の温度を昇温させる昇温段階と、前記試料の温度を保温する保温段階と、を交互に複数回繰り返して行い、 全ての前記保温段階について、直近の前記保温段階との間のエンタルピー変化を求め、最初の保温段階の温度に対する各保温段階の温度におけるエンタルピー変化の温度関数を温度微分することにより、前記試料の比熱を求めることを特徴とする比熱とエンタルピー変化の測定方法。

IPC (2)：

G01N 25/18 ,  G01N 25/00

FI (2)：

G01N25/18 J ,  G01N25/00 M

F-Term (6)：

2G040AB05 ,  2G040BA24 ,  2G040BA25 ,  2G040CA02 ,  2G040CA13 ,  2G040CA22

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 熱分析方法および装置
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2010-537484   Applicant：サントルナショナルドゥラルシェルシュシアンティフィク
• 比熱容量測定方法及びその装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-029772   Applicant：工業技術院長
• 特開昭63-159740
  
• 熱分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2010-020885   Applicant：メトラー-トレドアクチェンゲゼルシャフト