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J-GLOBAL ID：201003087304218570

熱分析装置

Inventor：
エルンスト・ヴァン・デ・ケルクホフ

About エルンスト・ヴァン・デ・ケルクホフ

, 
ポール・ピーター・ウィレム・ヴァン・グリンスヴェン

About ポール・ピーター・ウィレム・ヴァン・グリンスヴェン


Applicant, Patent owner：
メトラー-トレド アクチェンゲゼルシャフト

About メトラー-トレド アクチェンゲゼルシャフト


Agent (6)： 小野 新次郎 ,  社本 一夫 ,  小林 泰 ,  千葉 昭男 ,  富田 博行 ,  上田 忠
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010020885
Publication number (International publication number)：2010181408
Application date： Feb. 02, 2010
Publication date： Aug. 19, 2010
Summary：
【課題】熱流速モードを利用した、より高度な再現性及び精度を有する熱分析装置、特に示差走査熱量計を提供する。【解決手段】熱分析装置は、試料206を受容するための試料位置201と、基準位置202と、試料位置201及び基準位置202に関連付けられている加熱手段と、時間対温度の名目値の所定の温度プログラムに設定する手段と、試料位置201における試料温度を測定するための第1のセンサーと、更に、前記加熱手段の加熱電力を制御するコントローラーを含んでいて、前記加熱手段203、204の加熱電力が、前記試料の測定温度を前記所定の温度プログラムに実質上、従わせるように制御されている。【選択図】図2
Claim (excerpt)：
熱分析装置、特に示差走査熱量計であって、 試料(206)を受容するための試料位置(201,401)と、基準位置(202,402)と、前記試料位置(201,401)及び前記基準位置(202,402)に関連付けられている加熱手段と、時間対温度の名目値の所定の温度プログラムを設定する手段と、前記試料位置(201,401)における試料温度(TS)を測定するための第1のセンサー(407)と、前記基準位置(202,402)における基準温度(TR)を測定するための第2のセンサー(408)と、更に、前記加熱手段の加熱電力を制御するコントローラー(423)を含んでいて、前記加熱手段の加熱電力が、前記試料の測定温度(TS)を前記所定の温度プログラムに実質上、従わせるように制御されていることと、前記試料位置(201,401)と前記基準位置(202,402)との間に生じる差温が測定信号を表していることと、を特徴とする熱分析装置。
IPC (1)：
G01N 25/20
FI (2)：
G01N25/20 C ,  G01N25/20 E
F-Term (3)：
2G040AB05 ,  2G040EC01 ,  2G040EC09
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (4)
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