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J-GLOBAL ID：201103015959050326

熱分析方法および装置

Inventor：
ガーデン,ジャン-リュック

About ガーデン,ジャン-リュック

, 
ショシー,ジャック

About ショシー,ジャック


Applicant, Patent owner：
サントル ナショナル ドゥ ラ ルシェルシュ シアンティフィク

About サントル ナショナル ドゥ ラ ルシェルシュ シアンティフィク


Agent (5)： 野河 信太郎 ,  稲本 潔 ,  金子 裕輔 ,  甲斐 伸二 ,  秋山 雅則
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2010537484
Publication number (International publication number)：2011506947
Application date： Dec. 05, 2008
Publication date： Mar. 03, 2011
Summary：
等価条件下で温度変化に付される2つの試料(84、84')間の物理的パラメータの示差測定法を含み、前記2つの試料は、組成および熱特性が実質的に同一であり、測定の開始時に既知の大きさの初期温度差を示すことを特徴とする、試料の熱特性を測定する熱分析方法。
Claim (excerpt)：
等価条件下で温度変化に付される2つの試料(84、84')間の物理的パラメータの示差測定法を含み、 前記2つの試料は、組成および熱特性が実質的に同一であり、測定の開始時に既知の大きさの初期温度差を示すことを特徴とする、試料の熱特性を測定する熱分析方法。
IPC (1)：
G01N 25/20
FI (1)：
G01N25/20 B
F-Term (6)：
2G040AB06 ,  2G040CA02 ,  2G040DA02 ,  2G040EA02 ,  2G040GC01 ,  2G040HA06
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (6)
  • 熱分析装置およびその計測方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-034077   Applicant：株式会社リコー, 木村光照
  • 示差走査熱量計
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-236209   Applicant：セイコーインスツルメンツ株式会社
  • 熱分析装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-125442   Applicant：セイコーインスツルメンツ株式会社
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Cited by examiner (6)
  • 熱分析装置およびその計測方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-034077   Applicant：株式会社リコー, 木村光照
  • 示差走査熱量計
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-236209   Applicant：セイコーインスツルメンツ株式会社
  • 熱分析装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-125442   Applicant：セイコーインスツルメンツ株式会社
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