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J-GLOBAL ID:202003016127814420

物性測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 板谷 康夫 ,  水田 愼一 ,  板谷 真之
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2019097781
Publication number (International publication number):2020193813
Application date: May. 24, 2019
Publication date: Dec. 03, 2020
Summary:
【課題】物性測定装置において、簡易な構成で、細胞や微小生体組織といった対象物に対する侵襲性が低く、多様な対象物の物性を測定することができる汎用性の高いものとする。【解決手段】物性測定装置1は、対象物の物性を測定するためのセンサチップ2と、センサチップ2にμsオーダーの高速パルス電流を印加する電源回路3と、センサチップ2におけるmVオーダー以下の電圧を計測する電圧計側部4と、を備える。センサチップ2は、電源回路3と接続される一対の電源電極22、23と、電圧計側部4と接続される一対の計測電極24、25と、電源電極22、23間に設けられるμmオーダー以下の狭窄部26と、を有する。電源回路3は、狭窄部26に対象物が接触しているとき高速パルス電流を所定時間に連続的にセンサチップ2に印加し、電圧計側部4は、高速パルス電流に対応する狭窄部26の電圧の積分値から対象物の物性を測定する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
対象物の物性を測定するためのセンサチップと、前記センサチップにmsオーダー以下の高速パルス電流を印加する電源回路と、前記センサチップにおけるmVオーダー以下の電圧を計測する電圧計側部と、を備えた物性測定装置であって、 前記センサチップは、前記電源回路と電気的に接続される一対の電源電極と、前記電圧計側部と電気的に接続される一対の計測電極と、前記一対の電源電極間に設けられるμmオーダー以下の狭窄部と、を有し、 前記電源回路は、前記狭窄部に対象物が接触しているとき前記高速パルス電流を所定時間に連続的に前記センサチップに印加し、 前記電圧計側部は、前記高速パルス電流に対応する前記狭窄部の電圧の積分値から対象物の物性を測定することを特徴とする物性測定装置。
IPC (3):
G01N 27/04 ,  G01N 37/00 ,  G01N 25/18
FI (3):
G01N27/04 Z ,  G01N37/00 101 ,  G01N25/18 F
F-Term (23):
2G040AB09 ,  2G040BA02 ,  2G040BA24 ,  2G040CA02 ,  2G040DA02 ,  2G040DA12 ,  2G040EA02 ,  2G040EB02 ,  2G040EC02 ,  2G040FA01 ,  2G060AA01 ,  2G060AA05 ,  2G060AA15 ,  2G060AD06 ,  2G060AF01 ,  2G060AF09 ,  2G060AG08 ,  2G060AG10 ,  2G060AG11 ,  2G060FA01 ,  2G060GA01 ,  2G060HA03 ,  2G060HC12
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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