自動分析装置、自動分析方法、および、プログラム

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (3)：藤元亮輔 , 水本敦也 , 平山倫也
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2018148340
Publication number (International publication number)：2020024125
Application date： Aug. 07, 2018
Publication date： Feb. 13, 2020
Summary：

【課題】簡易な構成で高感度の自動分析装置を提供する。【解決手段】自動分析装置(100)は、測定物と試薬とが混合した反応液を収容可能な反応容器(130)と、照射光(191)を所定の入射偏光として反応容器に照射する照射手段(120)と、反応容器から射出される射出光(192)を測定する測定手段(160、170)と、測定手段から取得される特定の偏光成分の信号を処理して測定物を分析する処理手段(180)とを有し、特定の偏光成分は、反応液の条件に基づいて決定される。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

測定物と試薬とが混合した反応液を収容可能な反応容器と、照射光を所定の入射偏光として前記反応容器に照射する照射手段と、前記反応容器から射出される射出光を測定する測定手段と、前記測定手段から取得される特定の偏光成分の信号を処理して前記測定物を分析する処理手段と、を有し、前記特定の偏光成分は、前記反応液の条件に基づいて決定されることを特徴とする自動分析装置。

IPC (2)：

G01N 21/21 , G01N 35/00

FI (2)：

G01N21/21 Z , G01N35/00 E

F-Term (13)：

2G058GA01 , 2G059AA03 , 2G059AA05 , 2G059BB06 , 2G059DD03 , 2G059EE02 , 2G059GG01 , 2G059GG02 , 2G059HH01 , 2G059HH02 , 2G059JJ11 , 2G059JJ19 , 2G059KK01

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (8)

自動分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2014-181323 Applicant：株式会社日立ハイテクノロジーズ
特開平3-274463
受光ユニットおよびそれを含む測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-154902 Applicant：オリンパス株式会社

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