自動分析装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：平木祐輔 , 関谷三男 , 渡辺敏章
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2014181323
Publication number (International publication number)：2015007649
Application date： Sep. 05, 2014
Publication date： Jan. 15, 2015
Summary：

【課題】積分時間を確保しながらも複数の角度で散乱光を受光することができる自動分析装置を提供する。【解決手段】サンプルと試薬とが混合した反応液7を収めたセル8を円周上に保持し、光源15bからの照射光16aがセル中の反応液に照射されることによる散乱光16cをそれぞれ異なる角度で受光するように、セルディスクの回転方向に垂直な面内に配置される複数の光学系と、複数の光学系から導かれた光を受光する散乱光受光器33a〜33cとを配置する。複数の光学系は、ファイバ又はレンズである。【選択図】図16

Claim (excerpt)：

サンプルと試薬とが混合した反応液を収めたセルを円周上に保持し、回転と停止を繰り返すセルディスクと、光源と、前記光源からの照射光が前記セル中の反応液に照射されることによる散乱光をそれぞれ異なる角度で受光する複数の光学系と、前記複数の光学系から導かれた光を受光する散乱光受光器とを有し、前記複数の光学系は、前記セルディスクの回転方向に垂直な面内に配置されていることを特徴とする自動分析装置。

IPC (3)：

G01N 21/49 , G01N 21/78 , G01N 35/04

FI (3)：

G01N21/49 Z , G01N21/78 Z , G01N35/04 A

F-Term (36)：

2G054AA07 , 2G054CA21 , 2G054EA04 , 2G054EA05 , 2G054EB02 , 2G054EB14 , 2G054FA06 , 2G054FA16 , 2G054FA17 , 2G054FA18 , 2G054FA32 , 2G054FA40 , 2G054FB05 , 2G054GA05 , 2G058AA09 , 2G058BB02 , 2G058BB09 , 2G058BB16 , 2G058BB17 , 2G058CD04 , 2G058GA02 , 2G058GA08 , 2G059AA01 , 2G059BB13 , 2G059CC16 , 2G059EE01 , 2G059EE02 , 2G059EE11 , 2G059FF11 , 2G059GG01 , 2G059GG02 , 2G059HH02 , 2G059JJ05 , 2G059JJ11 , 2G059JJ17 , 2G059KK04

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (8)

特許第5318206号
光計測装置および光計測方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2007-319704 Applicant：古河電気工業株式会社
特開昭55-017440

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Cited by examiner (8)

特許第5318206号
特開昭55-017440
光計測装置および光計測方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2007-319704 Applicant：古河電気工業株式会社

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