材料解析システム、材料解析方法、および材料解析プログラム

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (4)：長谷川芳樹 , 黒木義樹 , 諏澤勇司 , 保坂一之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2019161138
Publication number (International publication number)：2021039021
Application date： Sep. 04, 2019
Publication date： Mar. 11, 2021
Summary：

【課題】材料の輸送特性を簡易に得ること。【解決手段】一実施形態に係る材料解析システムは、少なくとも一つのプロセッサを備える。少なくとも一つのプロセッサは、材料の微細組織を写した材料画像を取得し、材料画像を解析することで観察対象の相の位置を識別し、相の位置に基づいて材料の微細組織に対応する輸送モデルを生成し、輸送モデルに基づいて輸送特性を算出し、輸送特性を示す輸送特性データを出力する。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

少なくとも一つのプロセッサを備え、前記少なくとも一つのプロセッサが、材料の微細組織を写した材料画像を取得し、前記材料画像を解析することで観察対象の相の位置を識別し、前記相の位置に基づいて前記材料の微細組織に対応する輸送モデルを生成し、前記輸送モデルに基づいて輸送特性を算出し、前記輸送特性を示す輸送特性データを出力する、材料解析システム。

IPC (3)：

G01N 21/27 , H01L 39/24 , G01N 33/00

FI (3)：

G01N21/27 A , H01L39/24 Z , G01N33/00 A

F-Term (6)：

2G059AA03 , 2G059BB08 , 2G059EE13 , 2G059FF03 , 2G059MM01 , 4M113CA16

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

電極の評価方法および評価装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2013-180025 Applicant：株式会社住化分析センター
R-T-B系磁石合金の金属組織評価方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2007-257671 Applicant：昭和電工株式会社
MgB2超電導薄膜線材およびその製造方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2017-093226 Applicant：株式会社日立製作所

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