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J-GLOBAL ID：202103003800054192

地盤試料のスキャン方法、地盤試料の供試体の生産方法、地盤試料の土質試験方法及び地盤試料のスキャン装置

Inventor： 松村 聡 ,  水谷 崇亮 ,  小濱 英司 ,  近藤 明彦 ,  酒井 運雄 ,  王 波 ,  齊藤 典生 ,  鈴木 修一 ,  劉 小軍
Applicant, Patent owner： 国立研究開発法人 海上・港湾・航空技術研究所 ,  基礎地盤コンサルタンツ株式会社 ,  つくばテクノロジー株式会社
Agent (2)： 三浦 光康 ,  栢原 崇行
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2017089168
Publication number (International publication number)：2018189378
Patent number：6936451
Application date： Apr. 28, 2017
Publication date： Nov. 29, 2018
Claim (excerpt)：

【請求項1】地盤にサンプラーを貫入するサンプラー貫入工程と、サンプラーの貫入によって形成した地盤試料を、前記サンプラーに設けられた撮影装置を用いて土中でX線撮影し、長尺の地盤試料のスキャンデータを取得するスキャン工程とで構成され、 前記撮影装置は、X線CTスキャンに必要なX線源、X線検出器及び回転テーブルが内蔵され、前記スキャン工程では、前記回転テーブルを前記地盤試料の周方向に回転させてX線写真を撮影し、前記地盤試料のスキャンデータを取得する地盤試料のスキャン方法。

IPC (2)：

G01N 23/046 ( 201 8.01) ,  E02D 1/04 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01N 23/046 ,  E02D 1/04

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• X線非破壊検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2011-010959   Applicant：つくばテクノロジー株式会社, 独立行政法人産業技術総合研究所
• 地盤状況の判定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2009-032015   Applicant：中電技術コンサルタント株式会社

Cited by examiner (1)

• X線非破壊検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2011-010959   Applicant：つくばテクノロジー株式会社, 独立行政法人産業技術総合研究所

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• マイクロフォーカスX線CTスキャナを用いた地盤工学への新たなアプローチ