X線非破壊検査装置

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：中川邦雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011010959
Publication number (International publication number)：2012154627
Application date： Jan. 21, 2011
Publication date： Aug. 16, 2012
Summary：

【課題】軽量かつ設置が容易で、さらにX線被爆なく、直線状の被検査物をその場で非破壊に多方向からのX線透過像を取得し、被検査物の劣化状況等を高精度で検査できるX線非破壊検査装置を提供する。【解決手段】上記課題を解決するため、直線状の被検査物をその場で非破壊検査するX線検査装置であって、前記被検査物を挟み対峙する1組のX線源及び2次元検出器を3組以上搭載し、前記被検査物に沿って手動或いは自動的に移動させながら、前記X線源からパルス状のX線を順次発生させ、前記2次元X線検出器でX線透過像データを検出することにより、前記被検査物の全周を長い距離にわたって検査することを特徴とするX線非破壊検査装置の構成とした。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

直線状の被検査物をその場で非破壊検査するX線検査装置であって、前記被検査物を挟み対峙する1組のX線源及び2次元検出器を3組以上搭載し、前記被検査物に沿って手動或いは自動的に移動させながら、前記X線源からパルス状のX線を順次発生させ、前記2次元X線検出器でX線透過像データを検出することにより、前記被検査物の全周を長い距離にわたって検査することを特徴とするX線非破壊検査装置。

IPC (1)：

G01N 23/04

FI (1)：

G01N23/04

F-Term (21)：

2G001AA01 , 2G001AA10 , 2G001BA11 , 2G001CA01 , 2G001CA10 , 2G001DA01 , 2G001DA02 , 2G001DA06 , 2G001DA09 , 2G001FA06 , 2G001GA04 , 2G001GA13 , 2G001HA13 , 2G001HA14 , 2G001JA01 , 2G001JA06 , 2G001JA13 , 2G001JA16 , 2G001KA03 , 2G001MA06 , 2G001SA13

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (10)

多点型直走〜回転移動式CTスキャナの計測位置合わせ方法及びシステム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-183638 Applicant：三菱重工業株式会社
γ線CTによる送電線の腐食診断方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-095266 Applicant：日立電線株式会社, 財団法人ファインセラミックスセンター
材質識別検査装置および方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2007-221138 Applicant：株式会社IHI, 国立大学法人静岡大学

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