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J-GLOBAL ID：202103012122903493

サンプルの分析方法、及びサンプル分析用デバイス

Inventor： 矢崎 啓寿 ,  安井 隆雄 ,  加地 範匡 ,  馬場 嘉信 ,  川合 知二 ,  川野 聡恭 ,  土井 謙太郎 ,  柳田 剛 ,  福山 真央
Applicant, Patent owner： 国立大学法人東海国立大学機構 ,  国立大学法人大阪大学 ,  国立大学法人九州大学
Agent (1)： 松本 征二
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2018543939
Patent number：6846719
Application date： Oct. 04, 2017
Claim (excerpt)：

【請求項1】 サンプル分析用デバイスを用いたサンプルの分析方法であって、 前記サンプル分析用デバイスは、 前記サンプルが移動する移動部、 該移動部の途中に形成された測定領域、 前記サンプルが前記移動部を通過する際のイオン電流の値を測定する測定部、 を少なくとも含み、 前記分析方法は、 前記サンプルが前記移動部を通過する際のイオン電流の値を測定する測定工程、 前記測定工程で測定したイオン電流の値の内、前記サンプルが前記測定領域を通過した時のイオン電流の値から、イオン量の経時変化を解析する解析工程、 を少なくとも含み、 前記イオン量の経時変化を解析する解析工程が、前記サンプルが前記測定領域を移動する際に、前記サンプルから漏出したイオン量を含めて解析できる、 分析方法。

IPC (2)：

G01N 27/00 ( 200 6.01) ,  G01N 37/00 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01N 27/00 Z ,  G01N 37/00 101