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J-GLOBAL ID:202103012136615385

ゴム組成物の分析方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (6): 蔦田 正人 ,  中村 哲士 ,  富田 克幸 ,  有近 康臣 ,  前澤 龍 ,  水鳥 正裕
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2019209799
Publication number (International publication number):2021081335
Application date: Nov. 20, 2019
Publication date: May. 27, 2021
Summary:
【課題】ゴム組成物中に含まれる元素の分散状態を分析する、ゴム組成物の分析方法を提供する。【解決手段】 厚さ500μm以下、面の算術平均高さ1.5μm以下の加硫ゴムに、一次イオンビームをビームスポット0.25μm2以下で照射し、発生した二次イオンを測定することにより、ゴム組成物中に含まれる元素の分散状態を分析する、ゴム組成物の分析方法とする。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
厚さ500μm以下、面の算術平均高さ1.5μm以下の加硫ゴムに、一次イオンビームをビームスポット0.25μm2以下で照射し、発生した二次イオンを測定することにより、ゴム組成物中に含まれる元素の分散状態を分析する、ゴム組成物の分析方法。
IPC (2):
G01N 23/225 ,  G01N 33/44
FI (2):
G01N23/2258 ,  G01N33/44
F-Term (12):
2G001AA05 ,  2G001BA06 ,  2G001CA05 ,  2G001EA04 ,  2G001FA04 ,  2G001FA15 ,  2G001GA07 ,  2G001GA12 ,  2G001KA01 ,  2G001LA05 ,  2G001QA01 ,  2G001RA02
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
Article cited by the Patent:
Cited by examiner (12)
  • Application of Static SIMS to the Study of Rubber Cross-linking
  • Application of Static SIMS to the Study of Rubber Cross-linking
  • 二次元高分解能二次イオン質量分析装置(NanoSIMS)を用いた生物試料の元素イメージング
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