Pat
J-GLOBAL ID:202103013156005164
三次元ランドマーク自動認識を用いた人体の三次元表面形態評価方法及び三次元表面形態評価システム
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (1):
坂本 幸男
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2019163518
Publication number (International publication number):2021043564
Application date: Sep. 09, 2019
Publication date: Mar. 18, 2021
Summary:
【課題】三次元ランドマーク自動認識を用いて人体の対象部位の三次元表面形態の定量評価を簡便に行えるようにする技術を提供すること。【解決手段】形態評価方法は、被検者の対象部位をスキャンニングして被検者座標データ211を得るステップと、三次元自動認識により被検者座標データ211から抽出された解剖学的ランドマークに基づいて被検者相同モデル118を生成するステップと、複数人の健常者の同一対象部位をスキャンニングして得た標本座標データ111の群に基づいて形態を平均化した標準相同モデル113を生成するステップと、標準相同モデル113の各座標を基準とした、被検者相同モデル118の対応する各座標の偏差を演算するステップとを含む。偏差は、形態の異常さを示す度合いとして視覚化され、画像表示装置201に表示される。【選択図】図1
Claim (excerpt):
人体における対象部位の三次元表面形態を評価する形態評価方法であって、
三次元計測装置を用いて被検者の対象部位をスキャンニングすることで該対象部位の三次元表面形態を表す被検者座標データを得るステップと、
前記被検者座標データから抽出された解剖学的ランドマークに基づいて、モデル生成部が被検者相同モデルを生成する処理を行うステップと、
平均形態生成部が、複数人の健常者の前記対象部位と同一部位をスキャンニングして得た標本座標データの群に基づいて統計解析処理を行うことで形態を平均化した標準相同モデルを生成するステップと、
偏差演算部が、前記標準相同モデルの各座標を基準とした、前記被検者相同モデルの対応する各座標の偏差を演算するステップと
を含み、
前記偏差を用いて該被検者における該対象部位の三次元表面形態が評価される形態評価方法。
IPC (4):
G06T 17/00
, A61B 6/03
, A61B 5/055
, G06T 7/00
FI (4):
G06T17/00
, A61B6/03 360J
, A61B5/055 380
, G06T7/00 350C
F-Term (20):
4C093AA22
, 4C093AA26
, 4C093CA17
, 4C093DA04
, 4C093DA05
, 4C093FF15
, 4C093FF42
, 4C096AB36
, 4C096AB38
, 4C096AC01
, 4C096DC18
, 4C096DC36
, 5B080AA13
, 5B080FA02
, 5L096CA18
, 5L096FA32
, 5L096FA69
, 5L096HA11
, 5L096JA11
, 5L096KA04
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
-
検査対象の結果画像の作成方法および画像処理システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-355744
Applicant:シーメンスアクチエンゲゼルシヤフト
-
顔の3次元モデルの作成方法及びその変形方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-233407
Applicant:学校法人早稲田大学
-
顔解析システム及びプログラム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-040027
Applicant:株式会社スペースビジョン
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Cited by examiner (5)
-
検査対象の結果画像の作成方法および画像処理システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-355744
Applicant:シーメンスアクチエンゲゼルシヤフト
-
顔の3次元モデルの作成方法及びその変形方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-233407
Applicant:学校法人早稲田大学
-
顔解析システム及びプログラム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-040027
Applicant:株式会社スペースビジョン
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