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J-GLOBAL ID：202103017722532326

変位測定用治具と変位測定方法

Inventor： 中野 幸長 ,  伊藤 始 ,  小森 徹 ,  松田 幸一
Applicant, Patent owner： 株式会社アイペック ,  公立大学法人 富山県立大学 ,  中日本ハイウェイ・エンジニアリング名古屋株式会社
Agent (1)： 廣澤 勲
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2019090542
Publication number (International publication number)：2019124709
Patent number：6847430
Application date： May. 13, 2019
Publication date： Jul. 25, 2019
Claim (excerpt)：

【請求項1】 第一の構造物の近傍に設置された第二の構造物の、前記第一の構造物に対する位置の変化を測定するための治具であって、 前記第一の構造物の側面に当接させて取り付けられる平坦な基板を有し、 前記基板が前記第一の構造物の側面に取り付けられた状態で、前記基板の一部が前記第二の構造物の側面に対向し、前記基板の、前記第二の構造物の側面に対向する位置に、前記基板と前記第二の構造物の側面との距離の変化を測定するための透孔が設けられていることを特徴とする変位測定用治具。

IPC (2)：

G01B 5/00 ( 200 6.01) ,  G01B 5/24 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01B 5/00 L ,  G01B 5/24

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 角度測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-176046   Applicant：ニチハ株式会社
• ワークの直角度測定器具
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-057291   Applicant：株式会社ニシムラジグ
• 橋梁監視システムおよび橋梁監視方法ならびにプログラム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-314739   Applicant：株式会社エヌ・ティ・ティ・データ, 国立大学法人東京工業大学
• 変位検知装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-329709   Applicant：日本工営株式会社