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J-GLOBAL ID：202103020261874360
質量分析データ解析装置及び質量分析データ解析用プログラム
Inventor：
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,
Applicant, Patent owner：
,
Agent (1)：
特許業務法人京都国際特許事務所
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2017101557
Publication number (International publication number)：2018197662
Patent number：6899560
Application date： May. 23, 2017
Publication date： Dec. 13, 2018
Claim (excerpt)：
【請求項1】 それぞれが複数のグループのいずれかに属する複数のサンプルについて質量分析を行うことで得られたマススペクトルデータに基づいて、前記複数のグループの間で発現に差異があるマーカーピークを見つけるための質量分析データ解析装置であって、
a)与えられた複数のサンプルに対するマススペクトルデータに基づいて、いずれかのマススペクトルでピークが観測される質量電荷比値毎に、該複数のサンプルに対するマススペクトル上のピーク強度値をまとめるピーク情報収集部と、
b)前記ピーク情報収集部で求められた、一つの質量電荷比値に対する複数のピーク強度値に基づくピーク強度分布又はそれを補正したピーク強度分布が、所定のパラメータを用いた確率分布に従うか否かを質量電荷比値毎に判定し、該確率分布に従わないと判定されたピーク強度分布を与える質量電荷比値を、前記複数のグループの間で有意な差異があるとみなせるマーカーピークの候補として決定する有意差判定部と、
を備えることを特徴とする質量分析データ解析装置。
IPC (2)：
G01N 27/62 ( 202 1.01)
, C12M 1/34 ( 200 6.01)
G01N 27/62 D
, C12M 1/34 B
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (5)
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Article cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
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Mass++ Beginners' Guide, 2014
Cited by examiner (1)
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Mass++ Beginners' Guide, 2014
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