Pat
J-GLOBAL ID：202203003625615922

クロマトグラフ質量分析装置

Inventor：
小澤 弘明

About 小澤 弘明

, 
藤田 雄一郎

About 藤田 雄一郎

, 
石濱 泰

About 石濱 泰

, 
吉井 和佳

About 吉井 和佳


Applicant, Patent owner：
株式会社島津製作所

About 株式会社島津製作所

, 
国立大学法人京都大学

About 国立大学法人京都大学


Agent (1)： 特許業務法人京都国際特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2021009135
Publication number (International publication number)：2022113040
Application date： Jan. 22, 2021
Publication date： Aug. 03, 2022
Summary：
【課題】分析の条件を適切に設定することができるクロマトグラフ質量分析装置を提供する。 【解決手段】クロマトグラフ質量分析装置1は、MS分析、N及びM個の保持時間のそれぞれについて強度を示す3次元データを取得する実行部質量分析装置、N及びM個の保持時間について強度を示す3次元データを取得と、N行の強度データと、M列の強度データから成るN行M列のデータ行列X作成部41と、スペクトル行列Sとプロファイル行列Pの積SPでデータ行列Xを近似するように、行列S及び行列Pを求める行列分解実行部42と、行列S成分の値からプリカーサイオン検出部43と、行列Pの行列成分の値から試料に含まれる成分の保持時間検出部44と、試料に含まれる成分のプリカーサイオンの選別及び開裂を伴うMS分析の実行条件を決定するMS分析実行条件決定部45と、実行条件に基づいて質量分析装置にMS分析を実行させるMS分析実行部52とを備える。 【選択図】図1
Claim (excerpt)：
試料を時間的に分離するクロマトグラフと、該クロマトグラフで分離された試料に対して少なくとも1回のイオンの選別及び開裂を行ったうえで生成されたイオンを質量分析するMS n (nは2以上)分析機能を有する質量分析装置とを組み合わせたものであって、 前記質量分析装置にMS m-1 (mは2以上n以下)分析を実行させ、N(Nは自然数)個のm/z及びM(Mは自然数)個の保持時間のそれぞれについて強度を示す3次元データを取得するMS m-1 実行部と、 前記3次元データに基づいて、m/zの値が互いに異なるN行又はN列の強度データと、保持時間の値が互いに異なるM列又はM行の強度データから成るN行M列又はM行N列のデータ行列Xを作成するデータ行列作成部と、 前記データ行列Xに基づいて、N行K(Kは自然数)列のスペクトル行列SとK行M列のプロファイル行列Pの積SP、又はK行N列のスペクトル行列SとM行K列のプロファイル行列Pの積PSで該データ行列Xを近似するように、行列分解の手法によって該スペクトル行列S及び該プロファイル行列Pを求める行列分解実行部と、 前記スペクトル行列Sの各列又は各行の行列成分の値から前記試料に含まれる成分に由来するプリカーサイオンのm/zを検出するm/z検出部と、 前記プロファイル行列Pの各行又は各列の行列成分の値から前記試料に含まれる成分の保持時間を検出する保持時間検出部と、 前記m/z及び前記保持時間に基づいて、前記試料に含まれる成分のプリカーサイオンの選別及び開裂を伴うMS m 分析の実行条件を決定するMS m 分析実行条件決定部と、 前記実行条件に基づいて前記質量分析装置にMS m 分析を実行させるMS m 分析実行部と を備えるクロマトグラフ質量分析装置。
IPC (2)：
G01N 27/62 ,  G01N 30/72
FI (3)：
G01N27/62 D ,  G01N30/72 C ,  G01N30/72 A
F-Term (8)：
2G041CA01 ,  2G041EA04 ,  2G041GA06 ,  2G041GA09 ,  2G041GA10 ,  2G041HA01 ,  2G041LA07 ,  2G041LA20
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (4)
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM