Pat
J-GLOBAL ID：200903064250489513

質量分析システム

Inventor：
森島 大輔

About 森島 大輔

, 
竹田 明弘

About 竹田 明弘

, 
西田 哲也

About 西田 哲也


Applicant, Patent owner：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

About 株式会社日立ハイテクノロジーズ


Agent (1)： 平木 祐輔
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006017255
Publication number (International publication number)：2007198882
Application date： Jan. 26, 2006
Publication date： Aug. 09, 2007
Summary：
【課題】1台の質量分析装置を用いて、前駆イオンのマスクロマトグラムを予測し、良好なMSnデータを得られる可能性が高いタイミングでMSnを実行することができる質量分析システムを提供する。【解決手段】試料の分離手段と質量分析手段から構成される質量分析システムにおいて、n回目までのサンプル測定で得られたMS1データから全イオン種溶出パターンを算出し、前記イオン種溶出パターンとMSnデータとを基にn+1回目のサンプル測定時に質量分析するイオン種の優先順位を決定する。【選択図】図4
Claim (excerpt)：
試料の分離手段と、前記分離手段により分離された試料を質量分析する質量分析手段とを含む質量分析システムにおいて、 前記質量分析手段は、 n(nは1以上の整数)回目の質量分析において、イオン化した試料をそのまま質量分析して得られるデータと、特定のイオン種を選択的に解離させ質量分析して得られるデータとを含むマススペクトルデータを生成する手段と、 前記イオン化した試料をそのまま質量分析して得られるデータから全てのイオン種の溶出パターンを算出するイオン種溶出パターン算出手段と、 前記イオン種溶出パターンと前記マススペクトルデータとに基づいて、n+1回目の質量分析の対象となるイオン種の優先順位を決定する分析優先順位決定手段とを備えることを特徴とする質量分析システム。
IPC (2)：
G01N 27/62 ,  H01J 49/26
FI (3)：
G01N27/62 D ,  G01N27/62 X ,  H01J49/26
F-Term (22)：
2G041CA01 ,  2G041DA02 ,  2G041DA04 ,  2G041DA05 ,  2G041DA09 ,  2G041DA13 ,  2G041DA14 ,  2G041DA16 ,  2G041DA18 ,  2G041GA03 ,  2G041GA05 ,  2G041GA06 ,  2G041GA08 ,  2G041GA10 ,  2G041GA26 ,  2G041HA01 ,  2G041HA02 ,  2G041LA06 ,  2G041MA05 ,  5C038EE02 ,  5C038EF11 ,  5C038EF33
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
  • 質量分析システム
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-152693   Applicant：株式会社日立製作所, 株式会社日立ハイテクノロジーズ
  • 液体クロマトグラフ質量分析計
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-385160   Applicant：株式会社島津製作所
Cited by examiner (5)
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM