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J-GLOBAL ID：201003088844531541

クロマトグラフ質量分析装置

Inventor：
勝山 祐治

About 勝山 祐治


Applicant, Patent owner：
株式会社島津製作所

About 株式会社島津製作所


Agent (1)： 小林 良平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008179750
Publication number (International publication number)：2010019655
Application date： Jul. 10, 2008
Publication date： Jan. 28, 2010
Summary：
【課題】MS/MS分析のためのプリカーサの選択の自動的に行うとともにその選択の精度を上げ、未知成分の同定の効率化と精度向上とを図る。【解決手段】目的試料に対する1回目のLC/MS分析により、m/z、強度、時間の3次元データを収集し(S1、S2)、分析終了後に予め設定されたm/z範囲のデータを用いてマスクロマトグラムを作成する(S3)。そのマスクロマトグラムに対しピーク検出を行い、ピークに対応するm/zを含むピーク情報を収集する(S4、S5)。ピーク強度が所定の閾値以上のものを抽出し、同一成分に由来するとみなせるピークを除いて、プリカーサイオンリストを作成するとともに、同一時間に出現する複数のピークに対応した成分のMS/MS分析を実行できるようにスケジュールを設定する(S7)。このスケジュールに従い目的試料に対して1回以上のLC/MS/MS分析を実行し、それにより得られたデータに基づいて成分同定を実行する(S8〜S11)。【選択図】図2
Claim (excerpt)：
目的試料中の試料成分を時間方向に分離するクロマトグラフと、導入される試料中の成分をイオン化し、少なくとも1回のイオンの選別及び開裂を行った上で、生成されたイオンを質量分析するMSn(n≧2の整数)分析可能な質量分析装置と、を組み合わせたクロマトグラフ質量分析装置において、 a)目的試料に対するMSm-1(mは2≦m≦nの整数)分析を実行し、m/z、強度、及び時間の3次元データを収集するMSm-1分析実行手段と、 b)前記MSm-1分析により収集された3次元データの中で、少なくとも1つの所定のm/z範囲に含まれる3次元データを用い、そのm/z範囲に対応するマスクロマトグラムを作成するマスクロマトグラム作成手段と、 c)前記マスクロマトグラムに対しピークを検出し、そのピーク強度が所定の閾値以上であるピークに対応したm/zを含むピーク情報を取得するピーク情報収集手段と、 d)前記ピーク情報収集手段により収集されたピーク情報を利用してプリカーサイオンを決定するプリカーサ決定手段と、 e)前記目的試料に対し、前記決定されたプリカーサイオンに対する選別及び開裂操作を伴うMSm分析を実行するMSm分析実行手段と、 を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析装置。
IPC (3)：
G01N 27/62 ,  G01N 30/72 ,  H01J 49/26
FI (6)：
G01N27/62 D ,  G01N27/62 X ,  G01N27/62 C ,  G01N30/72 A ,  G01N30/72 C ,  H01J49/26
F-Term (19)：
2G041CA01 ,  2G041DA05 ,  2G041DA09 ,  2G041DA13 ,  2G041DA18 ,  2G041EA04 ,  2G041EA06 ,  2G041GA03 ,  2G041GA06 ,  2G041GA08 ,  2G041GA09 ,  2G041GA27 ,  2G041HA01 ,  2G041KA01 ,  2G041LA07 ,  2G041MA04 ,  5C038HH02 ,  5C038HH05 ,  5C038HH28
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (6)
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