異常監視システム、異常監視方法及びプログラム

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：小木智彦
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2017250063
Publication number (International publication number)：2019117464
Patent number：7095988
Application date： Dec. 26, 2017
Publication date： Jul. 18, 2019
Claim (excerpt)：

【請求項1】複数の子階層KPIにより、一以上の親階層KPIが構成されるデータを出力するシステムの異常監視を行う異常監視システムにおいて、子階層KPIと親階層KPIの関係性が登録されたKPI関連図を記憶するKPI関連図データベースと、前記子階層KPI及び前記親階層KPIに対応するデータを取得するKPIデータ取得手段と、前記KPIデータ取得手段が取得した前記データに異常があった場合に、前記KPI関連図に基づいて、前記親階層KPI及びそれに関連した子階層KPIのKPIデータを出力する関連出力手段と、前記KPIデータ取得手段が取得した前記データに異常があった場合に、前記KPI関連図に基づいて、前記異常に関するアラームが妥当であるか否かを判定するアラーム判定手段と、前記KPIデータ取得手段が取得した前記データに異常があった場合に、前記異常があった前記親階層KPIの異常を解消する前記子階層KPIを判断し、判断した前記子階層KPIに関連する装置のパラメータを調整する指示を行い、当該子階層KPIに関するフィードバックを実行するフィードバック実行手段と、を備え、前記異常に関するアラームが妥当ではないと判定した場合は、前記親階層KPIおよび前記子階層KPIのアラーム異常のアラームのみ出力する異常監視システム。

IPC (2)：

G05B 19/418 ( 200 6.01) , G06Q 50/04 ( 201 2.01)

FI (2)：

G05B 19/418 Z , G06Q 50/04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

生産情報管理システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2009-086860 Applicant：富士電機システムズ株式会社
生産管理システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-247708 Applicant：株式会社日立製作所
システムの状態および性能を監視し、診断するシステムおよび方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2006-179029 Applicant：エーエスエムエルネザーランズビー.ブイ.

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