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J-GLOBAL ID：200903094821862647

生産管理システム

Inventor：
玉置 研二

About 玉置 研二

, 
野中 洋一

About 野中 洋一


Applicant, Patent owner：
株式会社日立製作所

About 株式会社日立製作所


Agent (2)： 作田 康夫 ,  井上 学
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004247708
Publication number (International publication number)：2006065598
Application date： Aug. 27, 2004
Publication date： Mar. 09, 2006
Summary：
【課題】複雑な工程経路を経て製造される工業製品に対しても、製造履歴情報内部の複雑な関連構造まで探索して根本的な変動原因にまで絞り込む生産管理システムを提供する。【解決手段】製品品質履歴と製造工程履歴を収集および照合して両者の相関強度を計算し、製造工程に潜在する変動原因の候補を列挙するともに、製造工程履歴の各変量間の相互相関強度を全ての組み合わせで計算し、さらに投入計画に使用する製造順序情報を利用することで、製造ライン内部の工程相互の因果の関連構造モデルを自動生成し、その因果モデルを自動分析することにより品質変動原因の候補の中から根本変動原因を自動導出する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
複数の製造工程と少なくともひとつの検査工程を経て生産される製品の品質管理を行う生産管理システムであって、 該生産管理システムは、 前記製品の製造に用いる原料や部品、中間組立品を前記各製造工程に投入する順序情報を記憶、管理する製造順序情報管理装置と、 予め前記製品およびその原料や部品、中間組立品それぞれを一意的な固体識別情報と対応付けて記憶し、該固体識別情報と前記製造順序情報管理装置から提供された順序情報、前記製品の生産計画に基づいて前記製品の製造のための指示を行う製造管理装置と、 前記各製造工程に設けられた製造履歴情報収集装置が収集し前記固体識別情報と対応付けられた製造履歴情報と、前記検査工程で計測され前記固体識別情報と対応付けられた製品の品質履歴情報に基づいて、前記製品の品質変動原因を分析する品質変動原因分析装置とから構成され、 該品質変動原因分析装置は、 前記品質履歴情報と製造履歴情報との間の統計的相関強度を、前記個体識別情報を用いて照合することにより計算し、該統計的相関強度に基づいて前記製品の品質変動の原因となった可能性のある1つ以上の製造工程の候補を自動抽出する品質変動相関分析処理部と、 前記製造履歴情報間の統計的相互相関強度を、前記個体識別情報を用いて照合することにより計算し、得られた統計的相互相関強度と前記順序情報に基づいて製造工程相互の関連構造情報を求め、前記変動原因工程候補の中から製品品質変動の原因となった製造工程を絞り込み、自動導出する品質変動因果分析処理部と を有することを特徴とする生産管理システム。
IPC (2)：
G05B 19/418 ,  G06Q 50/00
FI (2)：
G05B19/418 Z ,  G06F17/60 108
F-Term (9)：
3C100AA29 ,  3C100AA57 ,  3C100AA58 ,  3C100BB05 ,  3C100BB12 ,  3C100BB21 ,  3C100BB27 ,  3C100CC02 ,  3C100CC03
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)

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